[发明专利]光照强度测量系统在审
申请号: | 201811157063.2 | 申请日: | 2018-09-30 |
公开(公告)号: | CN109115338A | 公开(公告)日: | 2019-01-01 |
发明(设计)人: | 高飞;华灯鑫;辛文辉;汪丽;袁芳苗;南恒帅 | 申请(专利权)人: | 西安理工大学 |
主分类号: | G01J1/44 | 分类号: | G01J1/44 |
代理公司: | 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 | 代理人: | 郭新娟 |
地址: | 710000 陕*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 本发明提供的一种光照强度测量系统,包括:光电转换系统以及控制系统;光电转换系统包括光衰减模块以及光探测模块;其中,光衰减模块用于对光电转换系统接收到的待测光进行衰减;光探测模块用于接收经光衰减模块衰减后的衰减光,生成电信号,将电信号传输至控制系统;控制系统用于根据电信号确定待测光的强度参数。通过光衰减模块对待测光的衰减,使光照强度测量系统可测量的待测光的强度参数范围增大。 | ||
搜索关键词: | 光衰减模块 测光 光电转换系统 光照强度测量 控制系统 衰减 光探测模块 强度参数 电信号传输 范围增大 可测量 衰减光 | ||
【主权项】:
1.一种光照强度测量系统,其特征在于,包括:光电转换系统以及控制系统;所述光电转换系统包括光衰减模块以及光探测模块;其中,所述光衰减模块用于对所述光电转换系统接收到的待测光进行衰减;所述光探测模块用于接收经所述光衰减模块衰减后的衰减光,生成电信号,将所述电信号传输至所述控制系统;所述控制系统用于根据所述电信号确定所述待测光的强度参数。
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