[发明专利]光照强度测量系统在审

专利信息
申请号: 201811157063.2 申请日: 2018-09-30
公开(公告)号: CN109115338A 公开(公告)日: 2019-01-01
发明(设计)人: 高飞;华灯鑫;辛文辉;汪丽;袁芳苗;南恒帅 申请(专利权)人: 西安理工大学
主分类号: G01J1/44 分类号: G01J1/44
代理公司: 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 代理人: 郭新娟
地址: 710000 陕*** 国省代码: 陕西;61
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供的一种光照强度测量系统,包括:光电转换系统以及控制系统;光电转换系统包括光衰减模块以及光探测模块;其中,光衰减模块用于对光电转换系统接收到的待测光进行衰减;光探测模块用于接收经光衰减模块衰减后的衰减光,生成电信号,将电信号传输至控制系统;控制系统用于根据电信号确定待测光的强度参数。通过光衰减模块对待测光的衰减,使光照强度测量系统可测量的待测光的强度参数范围增大。
搜索关键词: 光衰减模块 测光 光电转换系统 光照强度测量 控制系统 衰减 光探测模块 强度参数 电信号传输 范围增大 可测量 衰减光
【主权项】:
1.一种光照强度测量系统,其特征在于,包括:光电转换系统以及控制系统;所述光电转换系统包括光衰减模块以及光探测模块;其中,所述光衰减模块用于对所述光电转换系统接收到的待测光进行衰减;所述光探测模块用于接收经所述光衰减模块衰减后的衰减光,生成电信号,将所述电信号传输至所述控制系统;所述控制系统用于根据所述电信号确定所述待测光的强度参数。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安理工大学,未经西安理工大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201811157063.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top