[发明专利]接口测试参数分析方法、装置、电子装置及存储介质在审

专利信息
申请号: 201811151640.7 申请日: 2018-09-29
公开(公告)号: CN109522210A 公开(公告)日: 2019-03-26
发明(设计)人: 何新荣 申请(专利权)人: 中国平安人寿保险股份有限公司
主分类号: G06F11/36 分类号: G06F11/36
代理公司: 深圳市赛恩倍吉知识产权代理有限公司 44334 代理人: 杨毅玲
地址: 518000 广东省深圳市福田区益田路503*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 一种接口测试参数分析方法,包括:接收待测试接口的接口文档;接收指定人员录入的接口测试参数集;对所述接口测试参数集进行一级拆分以获得相互独立的多个接口测试参数;对每一接口测试参数进行二级拆分以获得所述接口测试参数的测试名和测试值;将每一接口测试参数的测试名和测试值添加至一接口测试参数表单的指定位置。本发明实施例能够提高对接口测试参数的分析效率以及接口测试效率。
搜索关键词: 接口测试 测试 参数分析 参数集 测试参数 测试接口 存储介质 电子装置 分析效率 接口文档 参数表 对接口 录入
【主权项】:
1.一种接口测试参数分析方法,其特征在于,包括:接收至少一待测试接口的接口文档以供指定人员根据所述接口文档录入接口测试参数;接收所述指定人员录入的接口测试参数集;对所述接口测试参数集进行一级拆分以获得相互独立的多个接口测试参数;对每一接口测试参数进行二级拆分以获得每一所述接口测试参数的测试名和测试值;以及将每一接口测试参数的测试名和测试值添加至一接口测试参数表单的指定位置。
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