[发明专利]一种绝缘子腐蚀性闪络风险评估方法

摘要

本发明公开了一种绝缘子腐蚀性闪络风险评估方法，包括：基于待评估点的腐蚀等级获取腐蚀产物的第一附加盐密，以及基于待评估点的污秽等级获取等值附盐密度和等值灰密；利用待评估点的雨水PH值得到酸雨的第二附加盐密；计算第一附加盐密、第二附加盐密以及等值附盐密度之和得到待评估点的校核盐密，再基于校核盐密和等值灰密得到待评估点的校核污秽度等级；基于校核污秽度等级得到绝缘子的第一个统一爬电比距；确定待评估设备的绝缘配置；从待评估点处待评估设备的台账中获取待评估设备的实际爬电距离，并依据待评估设备的实际爬电距离与建议的绝缘配置进行比对得出待评估设备的闪络风险评估结果。本方法考虑到酸雨及腐蚀产物对闪络的影响。

主权项

1.一种绝缘子腐蚀性闪络风险评估方法，其特征在于：包括如下步骤：S1：基于待评估点的腐蚀等级获取腐蚀产物的第一附加盐密，以及基于待评估点的污秽等级获取等值附盐密度和等值灰密；S2：利用待评估点的雨水PH值得到电导率，再基于电导率以及等值附盐密度得到酸雨的第二附加盐密；Q2＝α×γ×q式中，Q2为第二附加盐密，α为绝缘子参数，γ为电导率，q为等值附盐密度；S3：计算所述第一附加盐密、所述第二附加盐密以及等值附盐密度之和得到待评估点的校核盐密，再基于所述校核盐密和所述等值灰密得到待评估点的校核污秽度等级；S4：基于爬电比距法以及待评估点的校核污秽度等级得到绝缘子的第一个统一爬电比距；S5：确定待评估设备的绝缘配置；其中，从预存的台账库中提取待评估点的绝缘子的第二个统一爬电比距，并依据所述第一个统一爬电比距与所述第二个统一爬电比距选取统一爬电比距来建议绝缘配置；选取的爬电比距至少大于或等于第一个统一爬电比距与第二个统一爬电比距中的最大值，所述绝缘配置为依据选取的爬电比距计算的爬电距离；S6：从待评估点处待评估设备的台账中获取待评估设备的实际爬电距离，并依据待评估设备的实际爬电距离与建议的绝缘配置进行比对得出待评估设备的闪络风险评估结果；c：待评估设备的实际爬电距离大于或等于建议的绝缘配置，待评估设备的绝缘配置满足要求；d：待评估设备的实际爬电距离小于建议的绝缘配置，待评估设备的绝缘配置不满足要求，存在闪络风险。