[发明专利]接口测试用例生成方法、装置、电子设备、存储介质在审
| 申请号： | 201811041574.8 | 申请日： | 2018-09-06 |
| 公开（公告）号： | CN109254920A | 公开（公告）日： | 2019-01-22 |
| 发明（设计）人： | 潘林圣;侍小欣 | 申请（专利权）人： | 上海精数信息科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 上海隆天律师事务所 31282 | 代理人： | 臧云霄;潘一诺 |
| 地址： | 200333 上海市普*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供一种接口测试用例生成方法、装置、电子设备、存储介质。方法包括：获取待测试接口的接口配置信息，所述配置信息包括至少一个栏位的栏位值设定；依据栏位的栏位值设定生成有效栏位值列表和无效栏位值列表，所述有效栏位值列表中的有效栏位值符合所述栏位值设定，所述无效栏位值列表中的无效栏位值不符合所述栏位值设定；遍历所述有效栏位值列表生成正面测试用例；遍历所述无效栏位值列表生成负面测试用例；以及组合所述待测试接口的各栏位的正面测试用例及负面测试用例，生成待测试接口的接口测试用例列表。本发明提供的方法及设备自动生成并维护测试用例，减少重复的劳动，减轻测试人员的日常工作负担，用以节省不必要的维护成本。 | ||
| 搜索关键词： | 栏位 测试接口 接口测试 存储介质 电子设备 负面测试 列表生成 用例生成 遍历 测试 接口配置信息 工作负担 配置信息 维护测试 自动生成 重复 劳动 维护 | ||
【主权项】：
1.一种接口测试用例生成方法，其特征在于，包括：获取待测试接口的接口配置信息，所述配置信息包括至少一个栏位的栏位值设定；依据栏位的栏位值设定生成有效栏位值列表和无效栏位值列表，所述有效栏位值列表中的有效栏位值符合所述栏位值设定，所述无效栏位值列表中的无效栏位值不符合所述栏位值设定；遍历所述有效栏位值列表生成正面测试用例；遍历所述无效栏位值列表生成负面测试用例；以及组合所述待测试接口的各栏位的正面测试用例及负面测试用例，生成待测试接口的接口测试用例列表。
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