[发明专利]管理测量传感器的传递函数的确定的设备、方法和系统有效
| 申请号： | 201810998755.3 | 申请日： | 2018-08-30 |
| 公开（公告）号： | CN109425846B | 公开（公告）日： | 2021-04-09 |
| 发明（设计）人： | S·A·A·达内斯;J·斯图尔特 | 申请（专利权）人： | 亚德诺半导体无限责任公司 |
| 主分类号： | G01R35/04 | 分类号： | G01R35/04;G01R35/00 |
| 代理公司： | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人： | 欧阳帆 |
| 地址： | 百慕大群岛(*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本公开涉及管理测量传感器的传递函数的确定。本公开涉及生成关于电气测量系统的测量传感器的测量传感器分析摘要，该测量传感器适用于测量电气性能。通过下列方式生成分析摘要：获得多个分析结果，每个包括所述电气测量系统的测量传感器的传递函数的估计和指示所述传递函数的估计的精确度的相应的确定性值，其中所述多个分析结果基于所述测量传感器的传递函数的估计和在分析时间期限内由所述电气测量系统的监视器模块确定的相应的确定性值；和基于所述多个分析结果中的至少一个生成分析摘要。 | ||
| 搜索关键词： | 管理 测量 传感器 传递函数 确定 设备 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.用于电气测量系统的轮廓仪设备，所述轮廓仪设备包括：轮廓分析仪，被配置为：获得多个分析结果，每个包括所述电气测量系统的测量传感器的传递函数的估计和指示所述传递函数的估计的精确度的相应的确定性值，其中所述多个分析结果基于所述测量传感器的传递函数的估计和在分析时间期限内由所述电气测量系统的监视器模块确定的相应的确定性值；和基于所述多个分析结果中的至少一个生成分析摘要；其中所述测量传感器用于测量电气性能。
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