[发明专利]全深度阵列式测斜仪及深部位移测量方法在审
| 申请号： | 201810949165.1 | 申请日： | 2018-08-20 |
| 公开（公告）号： | CN109115147A | 公开（公告）日： | 2019-01-01 |
| 发明（设计）人： | 李柯含;赵其华;李慧生;赖光程;郑之凯 | 申请（专利权）人： | 深圳市北斗云信息技术有限公司;成都理工大学;广州市地平线岩土工程有限公司 |
| 主分类号： | G01B21/02 | 分类号： | G01B21/02 |
| 代理公司： | 深圳市顺天达专利商标代理有限公司 44217 | 代理人： | 高占元 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市龙华*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种全深度阵列式测斜仪及深部位移测量方法，用于分段测量测斜孔的深部位移，所述测斜仪包括测斜架、安装在所述测斜架内的测斜单元及数据采集单元；其中：所述测斜架包括多根刚性套管及多个万向接头，所述刚性套管之间通过所述万向接头连接，所述刚性套管及所述万向接头将所述测斜孔沿垂直方向分成多个测斜分段；所述测斜单元包括一根总线及多个传感器，所述传感器之间通过所述总线串联连接，所述传感器安装在所述刚性套管内；所述数据采集单元通过所述总线分时采集各个测斜分段的变形数据，并根据所述变形数据及所述测斜分段的长度计算获得测斜孔的深部位移。本发明实现对全深度范围内的测斜孔的深部位移自动监测。 | ||
| 搜索关键词： | 测斜 深部位移 刚性套管 测斜孔 万向接头 测斜仪 分段 数据采集单元 变形数据 阵列式 总线 传感器 测量 传感器安装 长度计算 分段测量 分时采集 自动监测 总线串联 | ||
【主权项】：
1.一种全深度阵列式测斜仪，用于分段测量测斜孔的深部位移，其特征在于，所述测斜仪包括测斜架、安装在所述测斜架内的测斜单元及数据采集单元；其中：所述测斜架包括多根刚性套管及多个万向接头，所述刚性套管之间通过所述万向接头连接，所述刚性套管及所述万向接头将所述测斜孔沿垂直方向分成多个测斜分段；所述测斜单元包括一根总线及多个传感器，所述传感器之间通过所述总线串联连接，所述传感器安装在所述刚性套管内；所述数据采集单元通过所述总线分时采集各个测斜分段的变形数据，并根据所述变形数据及所述测斜分段的长度计算获得测斜孔的深部位移。
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