[发明专利]光通信器件的插损校正方法、系统及插损测量系统

摘要

本发明适用于光通信器件测试技术领域，提供一种光通信器件的插损校正方法、系统及插损测量系统，可以根据不同待测光通信器件的插损链路类型和波长个数，自动的从同一插损测量系统中选择对应的测试链路来测量插损值并进行校正，测试效率高，可有效减少测试机台的数量，对不同光通信器件的不同测试需求可以统一考量和实现，并且测试结果精度高。

主权项

1.一种光通信器件的插损校正方法，其特征在于，基于光通信器件的插损测量系统实现，所述插损测量系统包括多种测试链路，所述方法包括：当至少一个光通信器件接入插损测量系统时，获取所述光通信器件输出的光信号的波长信息；其中，所述波长信息包括波长个数和波长；当所述至少一个光通信器件中有需要进行插损校正的待测光通信器件时，根据待测光通信器件的个数以及所述待测光通信器件的插损链路类型和波长个数，显示对应的测试链路界面；针对所述待测光通信器件中非首次进行插损校正的第一待测光通信器件，自动选择与所述第一待测光通信器件的插损链路类型和波长对应的第一测试链路；针对所述待测光通信器件中首次进行插损校正的第二待测光通信器件，根据用户输入的手动选择指令，选择与所述第二待测光通信器件的插损链路类型和波长对应的第二测试链路；根据上一次测量的所述第一待测光通信器件的插损值和通过所述第一测试链路自动测量的光功率，得到所述第一待测光通信器件的当前实际光功率并校正所述第一测试链路自动测量的光功率；根据通过所述第二测试链路自动测量的光功率和用户通过所述第二测试链路手动测量的光功率，得到所述第二待测光通信器件的当前插损值并校正所述第二测试链路自动测量的光功率。