[发明专利]靶组件和核素产生系统在审
申请号: | 201810929265.8 | 申请日: | 2018-08-15 |
公开(公告)号: | CN109411107A | 公开(公告)日: | 2019-03-01 |
发明(设计)人: | M.帕納斯特 | 申请(专利权)人: | 通用电气公司 |
主分类号: | G21G1/00 | 分类号: | G21G1/00;C22C19/05 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 肖日松;谭祐祥 |
地址: | 美国*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 用于同位素产生系统的靶组件。所述靶组件包括靶体,所述靶体具有产生腔室和邻近所述产生腔室的束腔。所述产生腔室配置成保持靶材料。所述束腔配置成接收入射在所述产生腔室上的粒子束。所述靶组件还包括定位成分离所述束腔和所述产生腔室的靶箔。所述靶箔具有暴露于所述产生腔室的一侧,使得所述靶箔在同位素产生期间与所述靶材料接触。所述靶箔包括具有镍基超合金组合物的材料层。 | ||
搜索关键词: | 腔室 靶组件 束腔 产生系统 同位素 靶材料 靶体 粒子束 镍基超合金组合物 腔室配置 材料层 邻近 暴露 配置 收入 | ||
【主权项】:
1.一种用于同位素产生系统的靶组件,所述靶组件包括:靶体,所述靶体具有产生腔室和邻近所述产生腔室的束腔,所述产生腔室配置成保持靶材料,所述束腔配置成接收入射在所述产生腔室上的粒子束;以及靶箔,所述靶箔定位成分离所述束腔和所述产生腔室,所述靶箔具有暴露于所述产生腔室的一侧,使得所述靶箔在同位素产生期间与所述靶材料接触,其中所述靶箔包括具有镍基超合金组合物的材料层。
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