[发明专利]基于模式聚类与谱校正的欠采样信号频率估计方法及装置在审

专利信息
申请号: 201810910856.0 申请日: 2018-08-10
公开(公告)号: CN109308453A 公开(公告)日: 2019-02-05
发明(设计)人: 黄翔东;徐婧文 申请(专利权)人: 天津大学
主分类号: G06K9/00 分类号: G06K9/00;G06K9/62
代理公司: 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 代理人: 李林娟
地址: 300072*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 发明公开了一种基于模式聚类与谱校正的欠采样信号频率估计方法及装置,方法包括:对L路欠采样信号样本序列做N点加汉宁窗的DFT得到DFT频谱,对DFT频谱进行基于比值法的频谱和相位校正,得到校正后的由频率、相位、幅值组成的参数组,并得到由校正后参数组合而成的向量;对于第m个频率成分的第l路独立向量,根据向量集合选出期望的峰值指标;根据谐波参数构成的峰值指标进行模式聚类,得到聚类之后的余数;利用余数构造频率余数组,并将其带入CRT模型进行重构,得出频率估计值。装置包括:模数转化器、DSP芯片、输出驱动及其显示模块。本发明引入频谱校正算法使频率重构精度得到提高,使用模式聚类提高估计器对噪声的鲁棒性。
搜索关键词: 校正 模式聚类 频谱 信号频率估计 余数 峰值指标 欠采样 聚类 模数转化器 采样信号 参数组合 独立向量 构造频率 频率估计 频率重构 频谱校正 使用模式 输出驱动 显示模块 相位校正 向量集合 谐波参数 样本序列 比值法 参数组 估计器 汉宁窗 鲁棒性 路欠 数组 算法 向量 重构 噪声 引入 期望
【主权项】:
1.基于模式聚类与谱校正的欠采样信号频率估计方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:对L路欠采样信号样本序列做N点加汉宁窗的DFT得到DFT频谱,对DFT频谱进行基于比值法的频谱和相位校正,得到校正后的由频率、相位、幅值组成的参数组,并且得到由校正后参数组合而成的向量;对于第m个频率成分的第l路独立向量,根据向量集合选出期望的峰值指标;根据谐波参数构成的峰值指标进行模式聚类,从而得到一个聚类之后的余数;利用余数构造频率余数组,并将其带入CRT模型进行重构,得出频率估计值。
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