[发明专利]一种光模块老化测试装置及方法在审

专利信息
申请号: 201810843640.7 申请日: 2018-07-27
公开(公告)号: CN108646121A 公开(公告)日: 2018-10-12
发明(设计)人: 商俊强;宋柳佳;苏方圆;马建旭;陆明;李岩;杨帆 申请(专利权)人: 光梓信息科技(上海)有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 代理人: 徐秋平
地址: 201203 上海市浦东新区中国(*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供一种光模块老化测试装置及方法,包括以下单元:交流电信号产生单元,用于产生第一交流电信号;电光转换单元,连接于所述交流电信号产生单元,用于将所述第一交流电信号转换为光信号;光信号传输单元,连接于所述电光转换单元,用于传输所述光信号;光电转换单元,连接于所述光信号传输单元,用于将所述光信号转换为第二交流电信号;交流电信号检测单元,连接于所述光电转换单元,用于检测所述第二交流电信号的误码率。本发明的一种光模块老化测试装置及方法,通过交流电信号产生单元产生第一交流电信号,交流电信号检测单元用于检测所述第二交流电信号的误码率,实现光模块老化测试。
搜索关键词: 交流电信号 光模块 老化测试装置 产生单元 光信号传输单元 电光转换单元 光电转换单元 检测 误码率 光信号转换 老化测试 传输 转换
【主权项】:
1.一种光模块老化测试装置,其特征在于,所述装置包括:交流电信号产生单元,用于产生第一交流电信号;电光转换单元,连接于所述交流电信号产生单元,用于将所述第一交流电信号转换为光信号;光信号传输单元,连接于所述电光转换单元,用于传输所述光信号;光电转换单元,连接于所述光信号传输单元,用于将所述光信号转换为第二交流电信号;交流电信号检测单元,连接于所述光电转换单元,用于检测所述第二交流电信号的误码率。
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