[发明专利]一种IGBT功率单元免拆卸检测装置在审

专利信息
申请号: 201810574986.1 申请日: 2018-06-06
公开(公告)号: CN110632486A 公开(公告)日: 2019-12-31
发明(设计)人: 渠学景;程铁汉;高树同;武可;王胜坤;张伟华;陈素红 申请(专利权)人: 北京平高清大科技发展有限公司;平高集团有限公司;国家电网有限公司;国网山东省电力公司电力科学研究院
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26
代理公司: 41119 郑州睿信知识产权代理有限公司 代理人: 陈浩
地址: 100000 北京市海淀区中*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及一种IGBT功率单元免拆卸检测装置,包括控制机构和试品控制供电单元,控制机构控制连接试品控制供电单元;控制机构设置有用于与试品控制回路通信连接的通信接口,试品控制供电单元设置有用于与试品取能回路供电连接的供电接口;控制机构用于控制试品控制供电单元给试品取能回路供电,控制机构用于与试品控制回路通信以判断试品控制供电单元输出的电压/电流是否满足测试需求以及试品取能回路是否正常。本发明通过调节给试品取能回路供电的试品控制供电单元电压或电流的输出范围,控制机构与试品控制回路进行通信,判断试品控制供电单元电压或电流是否满足试品要求,得出正常、欠压、过压结果,在免拆卸情况下实现试品取能回路测试。
搜索关键词: 试品 供电单元 取能 回路供电 控制回路 免拆卸 测试需求 供电接口 回路测试 检测装置 控制连接 通信接口 通信连接 输出 欠压 通信
【主权项】:
1.一种IGBT功率单元免拆卸检测装置,其特征在于,包括控制机构和试品控制供电单元,所述控制机构控制连接所述试品控制供电单元;所述控制机构设置有用于与试品控制回路通信连接的通信接口,所述试品控制供电单元设置有用于与试品取能回路供电连接的供电接口;所述控制机构用于控制试品控制供电单元的输出电压或电流的范围以给试品取能回路供电,所述控制机构用于与试品控制回路进行通信以判断试品控制供电单元输出的电压/电流是否满足测试需求以及试品取能回路是否正常。/n
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  • 本发明公开了一种面向多维封装结构芯片可靠性评估方法,包括以下步骤:步骤1,选定晶圆上用于可靠性测试的芯片样本数量;步骤2,对选定的芯片样本进行外部损伤检查;步骤3,将通过外部损伤检查后的芯片样本进行预处理实验;步骤4,将预处理实验后的芯片样本分为3组,分别进行温度循环实验、无偏压高加速温湿度应力实验以及压力蒸煮实验;步骤5,对完成步骤4试验后的3组芯片通过失效统计和微观组织结构表征,确定芯片样本的缺陷和寿命预计值。本发明的可靠性评估方法,能够确定不同工作条件对芯片的组织结构变化和内部缺陷形成的影响,确定芯片的可靠性及失效形式,准确评估产品寿命预计值,有助于尽快改进芯片设计和生产中的缺陷。
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  • 袁锟;王明康;代骞;杨辉 - 中国振华集团永光电子有限公司(国营第八七三厂)
  • 2016-06-01 - 2020-01-31 - G01R31/26
  • 本发明提供了一种带螺栓外形半导体产品老化测试方法,包括如下步骤:①焊接:将导电引线分别焊接在相配合的半导体元器件螺母上;②配对:将相配合且焊接好导电引线的半导体元器件螺母和半导体元器件螺栓以螺纹配对上紧;③安装:将螺纹配对好的半导体元器件安装在弹片夹具型老化测试板的弹片夹具上,安装时将导电引线夹入至弹片夹具中;④测试。本发明通过外接引线,以外接的引线夹入弹片夹具中进行老化测试的方法,能有效降低老化测试板生产厂家的成本,并且有效提高带螺栓外形半导体产品的老化测试良品率,降低因老化测试本身带来的不良影响,从而最终在很大程度上降低老化测试方面的社会整体成本。
  • 半导体测试装置及方法-201710756755.8
  • 张烨;陈亚男;金鹏;郁万成;王占国 - 中国科学院半导体研究所
  • 2017-08-29 - 2020-01-31 - G01R31/26
  • 本发明公开了一种半导体测试装置及方法,半导体测试装置包括激光器、电源、第一金属片及第二金属片,第一金属片与第二金属片相对设置,用以将待测半导体夹设于第一金属片和第二金属片之间。第一金属片设置有电流输出端,第二金属片接地,电源与该第一金属片相连,为设置在该第一金属片及第二金属片之间的待测半导体提供电压。第一金属片开设有通孔,激光器发出的激光穿过该通孔抵达设置在该第一金属片与第二金属片之间的待测半导体,进而激发该待测半导体产生瞬态光电流并通过电流输出端输出。其中,该瞬态光电流用于计算该待测半导体的载流子迁移率。如此,可以不必在每次测试时进行金属电镀、光刻等复杂工艺,提高了测试的便捷性。
  • 一种IGBT双脉冲测试电路-201822089770.4
  • 王飞;高文进;胡刚毅;吕凤龙 - 潍柴动力股份有限公司
  • 2018-12-12 - 2020-01-31 - G01R31/26
  • 本申请提供一种IGBT双脉冲测试电路,用于对半桥IGBT电路进行测试,电路包括:第一直流电源;第一电流传感器用于检测半桥IGBT电路中第一开关管的集电极电流;第二电流传感器,用于采集半桥IGBT电路中第二极管的反向恢复电流;第二直流电源,用于控制半桥IGBT电路中第二开关管处于关断状态;第一电压传感器,用于采集所述第二二极管的端电压;第二电压传感器,用于采集所述第一开关管的门极‑发射极电压;第三电压传感器,用于采集所述第一开关管的集‑射极电压;负载电感,负载电感与第一电压传感器并联;数据输出端口,用于输出各个传感器采集到的电流信号和电压信号,该能够快速输出测试结果,提高了测试效率。
  • 一种电子通信用检测装置-201920754290.7
  • 房新荷;朱彦龙;冯笑;张景景 - 郑州铁路职业技术学院
  • 2019-05-24 - 2020-01-31 - G01R31/26
  • 本实用新型公开了一种电子通信用检测装置,包括机架、成品箱、废料槽、检测组件、修剪箱、第二绝缘板、废料储放柜、握把、转动轴、固定轴承和支撑脚,所述机架的底部四周分别通过螺栓固定安装有支撑脚,所述机架的顶部一侧开设有废料槽,所述机架的顶部中央设置有检测组件,所述检测组件包括检测台、隔板、接线板、蓄电池、第一绝缘板、插接座、支脚插孔和导电组件,所述检测台的内部一侧安装有隔板,所述隔板的底部安装有蓄电池,该电子通信用检测装置,结构简单,体积小巧,在使用时,能够将不同支脚长度的二极管进行分类归整,同时,能够对二极管进行检测,鉴别二极管能否正常工作,大大提高了检测的效率。
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