[发明专利]一种低能电子衍射仪有效
| 申请号： | 201810520790.4 | 申请日： | 2018-05-28 |
| 公开（公告）号： | CN110542700B | 公开（公告）日： | 2022-01-28 |
| 发明（设计）人： | 乔山 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 |
| 主分类号： | G01N23/20058 | 分类号： | G01N23/20058 |
| 代理公司： | 上海泰博知识产权代理有限公司 31451 | 代理人： | 钱文斌 |
| 地址： | 200050 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供一种低能电子衍射仪，包括：电子发生装置、带电粒子光学系统、样品及二维图像型电子探测器。电子发生装置用于生成电子;带电粒子光学系统包括磁场及非轴对称电透镜群，磁场用于分离入射及出射带电粒子的运动轨道，并实现带电粒子运动方向的偏转；非轴对称电透镜群用于补偿磁场光学特性在垂直及平行磁场方向的非对称性，减小像差，并使带电粒子束在像平面上在沿垂直磁场方向和平行磁场的两个方向上同时成像。本发明的低能电子衍射仪可以实现入射和出射带电粒子轨道的分离，从而避免各个部件的几何配置困难，实现无电子枪阴影的低能电子衍射测量并使时间分辨低能电子衍射测量更为便利。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 低能 电子衍射 | ||
【主权项】：
1.一种低能电子衍射仪，其特征在于，所述低能电子衍射仪至少包括：电子发生装置、带电粒子光学系统、样品及二维图像型电子探测器；其中，/n所述电子发生装置用于生成电子；/n所述带电粒子光学系统用于将使所述电子发生装置生成的电子偏转第一预定角度后成聚焦平行束入射至所述样品表面，并使从所述样品表面衍射的电子束偏转第二预定角度后在所述二维图像型电子探测器上成像；所述带电粒子光学系统包括磁场及非轴对称电透镜群，所述磁场用于分离入射及出射带电粒子的运动轨道，并实现所述带电粒子运动方向的偏转；所述非轴对称电透镜群用于补偿磁场电子光学特性在垂直及平行磁场方向的非对称性，减小像差，并使带电粒子束在像平面上在沿垂直磁场方向和平行磁场的两个方向上同时成像。/n
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- 一种多能段易操控超快电子衍射装置，其特点在于包括一台高功率激光器、一根钨丝靶、磁场屏蔽板、电子挡板和一对大小相同的铁氧体永磁铁：S极永磁铁、N极永磁铁。本发明将电子枪系统和微波加速系统合二为一，大大简化了原来复杂的电子源系统，并且同时提供能量不同的电子束团，得到不同能量的电子探针与样品的衍射图案，为超快电子衍射实验研究提供了新思路。
- 一种基于三维电子衍射确定分子结构的方法-202210086234.7
- 孙俊良;陈柏桦;刘扬;张超超;黄斐;刘磊峰 - 苏州青云瑞晶生物科技有限公司
- 2022-01-25 - 2022-05-06 - G01N23/20058
- 本发明涉及化合物分子结构的表征方法，特别涉及一种难结晶、不结晶或极微量的化合物分子结构的测定方法。该方法通过多孔材料纳米晶吸附待测分子，使得待测分子规则排列于多孔材料纳米晶的孔道中，再使用三维电子衍射技术获得此主‑客体复合物纳米晶的衍射信号，从而解析待测分子的分子结构。本发明解决了难结晶、不结晶或极微量的化合物准确分子结构表征的难题，仅需要极微量的待测物和多孔材料纳米晶即可快速确定待测分子的结构。
- 一种具有多种工作模式的时间分辨试样检查装置-202110427124.8
- 梁文锡;胡春龙;叶昶 - 华中科技大学
- 2021-04-21 - 2022-04-01 - G01N23/20058
- 本发明属于超快电子显微成像技术领域，具体涉及一种具有多种工作模式的时间分辨试样检查装置，通过在超快脉冲电子源与进行试样检查的超高真空腔体之间加装楔形的连接法兰，并结合多轴试样传输与调整系统的三维平移及两维旋转特性，对试样表面与检查电子轴线的空间关系进行调整，实现两种检查布局；通过改进超快脉冲电子源，在可调节与检查腔体空间关系的基础上实现了出射电子束会聚角可调，从而与两种检查布局结合形成多种工作模式，并通过腔体布局的设计创新集成了试样原位处理与表征及储存等功能，使超快电子显微技术所能检查的试样类型拓展到清洁表面及吸附层等以前不利于检查的多种类试样，以及利用不同衍射方式检查更多类型的结构动态信息。
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