[发明专利]荷电离子束流强度测量系统及其测量方法在审

专利信息
申请号: 201810458808.2 申请日: 2018-05-14
公开(公告)号: CN108415063A 公开(公告)日: 2018-08-17
发明(设计)人: 姚存峰 申请(专利权)人: 中国科学院近代物理研究所
主分类号: G01T1/29 分类号: G01T1/29
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 李坤
地址: 730000 甘*** 国省代码: 甘肃;62
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摘要: 本公开提供了一种荷电离子束流强度测量系统及其测量方法,该测量系统包括离子束传输真空管道、电磁扫描设备、离子束斑探测器、半拦截式束流探测器、拦截式束流探测器和辐照材料;电磁扫描设备,设置在所述离子束传输真空管道前端的外部;离子束斑探测器、半拦截式束流探测器、拦截式束流探测器和辐照材料顺次设置在离子束传输真空管道内,其中辐照材料设置在离子束传输真空管道的后端。本公开突破了传统铝箔三明治测束技术中存在的测量精度差,易烧蚀损坏等问题,同时也克服了样品与法拉第筒一体式设计中操作不便利、导电样品限制等不足,采用一种半拦截式的测束技术,更加适合在强流、长时间、不同辐照材料实验中使用。
搜索关键词: 离子束传输真空管道 束流探测器 半拦截式 辐照材料 离子束斑探测器 电磁扫描设备 荷电离子 强度测量 测量 拦截式 束流 三明治 辐照材料实验 一体式设计 测量系统 导电样品 法拉第筒 铝箔 烧蚀 便利 外部
【主权项】:
1.一种荷电离子束流强度测量系统,包括:离子束传输真空管道;电磁扫描设备,设置在所述离子束传输真空管道前的外部;离子束斑探测器,设置在所述离子束传输真空管道内部,与所述电磁扫描设备相邻;半拦截式束流探测器,设置在所述离子束传输真空管道内部,与所述离子束斑探测器相邻;所述半拦截式束流探测器分别与外部的电流表和电压表连接;拦截式束流探测器,设置在所述离子束传输真空管道内部,与所述半拦截式束流探测器相邻;所述拦截式束流探测器分别与外部的电流表和直流电源连接;辐照材料,设置在所述离子束传输真空管道后端的内部。
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