[发明专利]一种成像式敏感器动态杂光快速分析方法有效
| 申请号： | 201810402692.0 | 申请日： | 2018-04-28 |
| 公开（公告）号： | CN108647416B | 公开（公告）日： | 2022-06-03 |
| 发明（设计）人： | 龙也;张国琪;郎燕;张迎发;宋明超;宋晓光;徐春;蒋金哲 | 申请（专利权）人： | 北京控制工程研究所 |
| 主分类号： | G06F30/23 | 分类号： | G06F30/23 |
| 代理公司： | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人： | 武莹 |
| 地址： | 100080 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种成像式敏感器动态杂光快速分析方法，首先对帆板模型进行简化得到两个分别用于杂光直接进入分析、用于杂光一次镜面反射进入分析的简化模型，然后分别计算太阳光、月球光、地面地气光的可视范围角，最后利用杂光光源、干扰途径和敏感器特性推导出的判别公式，分别进行杂光直接进入干扰分析、杂光反射进入干扰分析。本发明提出的成像式敏感器动态杂光快速分析方法，解决了在引入考虑挠性附件振动的整星动力学条件下，利用杂光光源、干扰途径和相机特性推导可大幅降低运算量的直接判别算法，可考虑挠性附件表面反射产生的动态杂光干扰，分析效率显著提升，具有很好的使用价值。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 成像 敏感 动态 快速 分析 方法 | ||
【主权项】：
1.一种成像式敏感器动态杂光快速分析方法，其特征在于包括如下步骤：(1)对帆板模型进行简化得到简化模型A、简化模型B，其中，简化模型A用于杂光的直接进入分析，简化模型B用于一次镜面反射进入分析；其中，杂光包括太阳光、月球光、地面地气光；(2)分别计算太阳光、月球光、地面地气光的可视范围角；(3)进行杂光直接进入干扰分析；(4)进行杂光反射进入干扰分析。
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