[发明专利]烹饪设备上锅具的移动状态检测方法、装置及烹饪设备有效

专利信息
申请号: 201810368930.0 申请日: 2018-04-23
公开(公告)号: CN110398676B 公开(公告)日: 2022-03-15
发明(设计)人: 宣龙健;汪钊;卢伟杰;杜放 申请(专利权)人: 佛山市顺德区美的电热电器制造有限公司
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26;A47J36/00;A47J27/00
代理公司: 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人: 王莹;吴欢燕
地址: 528311 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明提供一种烹饪设备上锅具的移动状态检测方法、装置及烹饪设备,其中,所述方法包括:在烹饪设备进入稳定工作状态后,采集所述IGBT模块至少两个连续谐振周期中的关断周期Toff值;计算连续的两相邻谐振周期内Toff值的变化程度;根据所述变化程度,确定烹饪设备上锅具的移动状态。本发明通过检测烹饪设备加热过程中IGBT谐振参数在连续谐振周期内的变化程度,并根据变化程度确定烹饪设备的移动状态,根据不同移动状态,采取相应的不同措施,可以有效地避免烹饪设备工作在不稳定状态,降低烹饪设备元器件的失效率,提高烹饪设备整机的可靠性。
搜索关键词: 烹饪 设备 上锅具 移动 状态 检测 方法 装置
【主权项】:
1.一种烹饪设备上锅具的移动状态检测方法,所述烹饪设备包括IGBT模块,其特征在于,所述方法包括:在烹饪设备进入稳定工作状态后,采集所述IGBT模块至少两个连续谐振周期中的关断周期Toff值;计算连续的两相邻谐振周期内Toff值的变化程度;根据所述变化程度,确定烹饪设备上锅具的移动状态。
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  • 本公开提供一种半导体器件的衬底端识别方法及装置,基于半导体器件的基体效应,在向待识别的衬底端加入偏压和不加入偏压的两种测试情况下,对得到的临限电压和漏极电流进行比较,并根据当前半导体器件是否存在基体效应进行判断,从而确定能够让半导体器件出现基体效应的待识别的衬底端为该半导体器件的衬底端,提高了半导体器件的衬底端识别的准确率,保证了后续对半导体器件进行电性测试的有效性。
  • 一种多通道热阻测试装置及测试系统-202010793632.3
  • 胡久恒;胡久旺;安浙文;代凯旋 - 杭州高坤电子科技有限公司
  • 2020-08-10 - 2023-09-19 - G01R31/26
  • 本发明公开了一种多通道热阻测试装置及测试系统,包括测试装置主体,测试装置主体包括运行状态指示灯、控制按钮、显示器、工业控制计算机、键盘组合、Vce/IM/IH测试端子、20V/100A电源和监控单元箱,Vce/IM/IH测试端子负责采样VF后软件自动计算出Tj,准确检测出器件的压降,精确的测试电流IM恒流源,工业控制计算机控制20V/100A电源的模式及输出大小,本发明具有过压保护、过流保护、过温保护、过功率保护等更多保护,整机可同时测12个元件的热阻,IF开通关断后可在50us内测出VF,并通过Tj曲线和VF曲线计算出热阻值。
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