[发明专利]基于二维错位吸收光栅的X射线光栅差分相位衬度成像方法及装置在审
| 申请号： | 201810347486.4 | 申请日： | 2018-04-18 |
| 公开（公告）号： | CN108469443A | 公开（公告）日： | 2018-08-31 |
| 发明（设计）人： | 傅健;胡棪君 | 申请（专利权）人： | 北京航空航天大学 |
| 主分类号： | G01N23/041 | 分类号： | G01N23/041;G01N23/083;G01N23/20 |
| 代理公司： | 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 | 代理人： | 杨学明;卢纪 |
| 地址： | 100191*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于二维错位吸收光栅的X射线光栅差分相位衬度成像方法及装置。该方法包括：以本发明提出的新型二维错位吸收光栅布置Talbot‑Lau成像结构；以上述结构获取X射线穿过物体后的二维强度图像；以傅里叶分析法从采集到的二维强度图像中分离出X射线吸收衬度、差分相位衬度及散射衬度三种图像。相较于传统方法，本发明实施例不需要移动光栅，一次曝光即可获得三种衬度图像，大幅减小了成像时间，降低了成像剂量，提高了系统成像效率和稳定性。 | ||
| 搜索关键词： | 二维 差分相位衬度 吸收光栅 成像方法及装置 错位 强度图像 衬度 成像 图像 傅里叶分析法 成像结构 结构获取 系统成像 一次曝光 移动光栅 散射 减小 采集 穿过 | ||
【主权项】：
1.一种基于二维错位吸收光栅的X射线光栅差分相位衬度成像方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤1、利用二维错位吸收光栅布置Talbot‑Lau成像结构获取X射线穿过物体后的二维强度图像；步骤2、以傅里叶分析法从采集到的二维强度图像中分离出X射线吸收衬度、差分相位衬度及散射衬度三种图像。
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