[发明专利]位线栅极及其制作方法在审

专利信息
申请号: 201810341857.8 申请日: 2018-04-17
公开(公告)号: CN110391232A 公开(公告)日: 2019-10-29
发明(设计)人: 陈品宏;陈意维;邱钧杰;蔡志杰;陈姿洁;刘志建 申请(专利权)人: 联华电子股份有限公司;福建省晋华集成电路有限公司
主分类号: H01L27/108 分类号: H01L27/108
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 陈小雯
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明公开一种位线栅极及其制作方法,该位线栅极结构包含一基底,一非晶硅层位于该基底上,一第一掺杂区位于该非晶硅层内,一氮化硅钛(TiSiN)层,位于该非晶硅层上,以及一第二掺杂区位于该氮化硅钛层内,且该第一掺杂区与该第二掺杂区直接接触。
搜索关键词: 掺杂区 非晶硅层 位线 氮化硅钛 基底 栅极结构 制作
【主权项】:
1.一种位线栅极结构,其特征在于,包含:基底;非晶硅层,位于该基底上;第一掺杂区,位于该非晶硅层内;氮化硅钛(TiSiN)层,位于该非晶硅层上;以及第二掺杂区,位于该氮化硅钛层内,且该第一掺杂区与该第二掺杂区直接接触。
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