[发明专利]一种获取受限熔体中单个聚合物分子扩散以及运动模式的测量方法

摘要

本发明公开了一种获取受限熔体扩散场单个聚合物分子扩散信息以及运动模式的测量方法。该方法包括如下步骤：1)将荧光分子探针标记于聚合物分子的末端；2)将所述聚合物的溶液与荧光标记聚合物的溶液混合，然后采用所述混合溶液制备受限超薄膜熔体；3)将激光照射于所述受限超薄膜过冷熔体上，收集所述荧光分子探针发射的荧光信号；所述荧光信号被单光子探测器检测到，通过对荧光信号强度的分布分析可以精确的得到标记聚合物分子的位置信息；4)通过在受限超薄膜熔体内提取标记聚合物分子的空间坐标，就能计算得到受限熔体中单个聚合物分子的扩散信息和对应的扩散模式。该方法既可以得到精确位置的扩散信息，而且具有单分子级别的分辨率和灵敏度。

主权项

1.一种获取受限熔体扩散场单个聚合物分子扩散信息以及运动模式的测量方法，包括如下步骤：1)将荧光分子探针标记于聚合物分子的末端，得到荧光标记聚合物；2)将所述聚合物的溶液与所述荧光标记聚合物的溶液混合，得到混合溶液；然后采用所述混合溶液制备受限超薄膜熔体；3)将激光照射于所述受限超薄膜熔体上，收集所述荧光分子探针发射的荧光信号；所述荧光信号被单光子探测器检测到，通过对荧光信号强度的分布分析可以精确的得到标记聚合物分子的位置信息；所采用的测量系统包括：一用于作为激发光照射待测样品的激发光光源单元；一用于将所述激发光光源单元发出的激发光会聚到待测样品，同时将待测样品产生的荧光信号收集并导出的光学显微单元；一用于对待测样品进行单分子显微成像的单分子荧光成像单元；4)通过在受限超薄膜熔体内提取标记聚合物分子的空间坐标，通过坐标计算标记分子的均方位移，并且和间隔时间进行线性拟合，从而得到受限熔体中单个聚合物分子的扩散信息和对应的扩散模式。