[发明专利]一种基于多参数的合金晶粒尺寸的确定方法及确定系统有效

专利信息
申请号: 201810290114.2 申请日: 2018-04-03
公开(公告)号: CN108490081B 公开(公告)日: 2020-09-15
发明(设计)人: 陈昊;董金龙;黎明;陈曦;邬冠华 申请(专利权)人: 南昌航空大学
主分类号: G01N29/44 分类号: G01N29/44
代理公司: 北京高沃律师事务所 11569 代理人: 王戈
地址: 330000 江*** 国省代码: 江西;36
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摘要: 发明公开一种基于多参数的合金晶粒尺寸的确定方法及确定系统。确定方法包括:获取各个实验样本的超声定点扫描信号、平均厚度值及平均晶粒尺寸值;根据平均厚度值及超声定点扫描信号确定每个实验样本的各个超声检测参数值;根据相关性度量准则确定各个有效超声检测参数;根据各个有效超声检测参数建立晶粒尺寸软测量模型;采用晶粒尺寸软测量模型确定被测合金的晶粒尺寸。本发明提供的确定方法及确定系统,将多个超声检测参数进行融合,保留了大量超声波传播过程中不同超声检测参数对晶粒尺寸的响应,能够有效提高测量精度和抗干扰能力。
搜索关键词: 一种 基于 参数 合金 晶粒 尺寸 确定 方法 系统
【主权项】:
1.一种基于多参数的合金晶粒尺寸的确定方法,其特征在于,所述确定方法包括:获取各个实验样本的超声定点扫描信号、平均厚度值及平均晶粒尺寸值;根据所述平均厚度值及所述超声定点扫描信号确定每个所述实验样本的各个超声检测参数值;根据相关性度量准则确定各个有效超声检测参数,其中,各个与所述有效超声检测参数对应的超声检测参数值与所述平均晶粒尺寸值的相关系数大于第一相关性阈值,且各个与所述有效超声检测参数对应的超声检测参数值之间的相关系数小于第二相关性阈值,所述有效超声检测参数的数量大于或等于2;根据各个所述有效超声检测参数建立晶粒尺寸软测量模型;采用所述晶粒尺寸软测量模型确定被测合金的晶粒尺寸。
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