[发明专利]一种检测深度可调的LRSPR传感器折射率变化测量方法有效
| 申请号： | 201810186711.0 | 申请日： | 2018-03-07 |
| 公开（公告）号： | CN109696419B | 公开（公告）日： | 2021-06-25 |
| 发明（设计）人： | 汪之又;黄煜;黎明奇;李正大;郑杰文;刘旋 | 申请（专利权）人： | 长沙学院 |
| 主分类号： | G01N21/41 | 分类号： | G01N21/41 |
| 代理公司： | 安化县梅山专利事务所 43005 | 代理人： | 夏赞希 |
| 地址： | 410000 湖*** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | 本发明公开一种检测深度可调的LRSPR传感器折射率变化测量方法，该LRSPR传感器安装在机械转台上，包括激光器、透镜、棱镜、LRSPR传感芯片、单元光电探测器和可调电压输出装置；LRSPR传感芯片依次包括制备于棱镜底面上的氧化物导电层、折射率调节介质层组合、金属功能层、检测功能层和样品池，样品池内为折射率为n1的参考样品1且未施加电场时，以0.01度为步长连续调节机械转台改变入射光角度，获得参考通道的LRSPR共振角度，本发明通过外场调节折射率调节介质层组合的折射率实现SPW检测深度的调节，可以实现检测功能层和检测样品折射率变化的同时检测。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 检测 深度 可调 lrspr 传感器 折射率 变化 测量方法 | ||
【主权项】：
1.检测深度可调的LRSPR传感器，其特征在于，其安装在机械转台上，包括激光器、透镜、棱镜、LRSPR传感芯片、单元光电探测器和可调电压输出装置；LRSPR传感芯片依次包括制备于棱镜底面上的氧化物导电层、折射率调节介质层组合、金属功能层、检测功能层和样品池；检测功能层包括修饰纳米磁珠的参考通道和未修饰纳米磁珠的检测通道，以检测功能层中心为分界线，参考通道和检测通道各占检测功能层面积的50％；样品池内盛放有检测样品，其与检测功能层的下表面之间留有一间隙；检测样品的液面与检测功能层的下表面接触；折射率调节介质层组合包括匹配介质层和折射率可变介质层，匹配介质层与检测功能层的折射率匹配。
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