[发明专利]一种应用光学编码进行长度测量的方法在审
| 申请号： | 201810159139.9 | 申请日： | 2018-02-26 |
| 公开（公告）号： | CN108489406A | 公开（公告）日： | 2018-09-04 |
| 发明（设计）人： | 洪川;田海波 | 申请（专利权）人： | 上海贝高医疗科技有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/02 | 分类号： | G01B11/02 |
| 代理公司： | 北京冠和权律师事务所 11399 | 代理人： | 朱健;陈国军 |
| 地址： | 201201 上海市浦东新区张*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种应用光学编码进行长度测量的方法，将三组光学编码条纹印刷在平整的表面上，利用三组光电发射/接收器件进行检测，当发射的光束入射到深色的光学编码条纹上时会被吸收，当入射到条纹的空白时，反射的光强会变强；这样当光电收发器件和编码条纹发生相对位移时，当入射光束经过编码条纹的边缘时，光电接收器件的信号会发生跳变，通过测量不同条纹产生的上升沿/下降沿的变化和差异，根据算法即可实时测量出绝对位移量，从而达到测量长度/高度绝对值的目的。本发明提供了一种应用光学编码进行长度测量的方法，低成本，高精度，可快速进行长度和高度的绝对值测量。 | ||
| 搜索关键词： | 条纹 应用光学 长度测量 编码条纹 光学编码 测量 光电接收器件 绝对值测量 光电发射 光电收发 光束入射 接收器件 绝对位移 入射光束 实时测量 相对位移 低成本 上升沿 下降沿 变强 光强 入射 跳变 反射 算法 平整 印刷 发射 检测 吸收 | ||
【主权项】：
1.一种采用光学编码条纹的绝对位移量的测量方法，可适用于长度测量，可应用于体检仪、身高计、婴儿秤、母婴秤、电子卷尺等长度/高度的测量。
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