[发明专利]便携式自动过分相控制系统主机性能测试方法

摘要

本发明提供了一种便携式自动过分相控制系统主机性能测试方法，测试仪首先模拟机车“I端”和“II端”向前运行的状态并将此状态接入自动过分相主机，通过向不同车感器的输入口输入符合自动过分相主机输入要求的信号脉冲触发自动过分相主机“强迫信号”和“预告/恢复信号”输出，在该过程中测试出自动过分相主机的灵敏度、输出幅值、输出脉冲宽度、输出驱动能力以及主机的响应时间。在不需要主机从机车上拆卸下来的情况下通过简单操作测试出主机的性能。此外，本发明还具有结构简单，便于携带，测量准确，测试速度快的优点。

主权项

1.便携式自动过分相控制系统主机性能测试仪及测试方法，其特征在于：所述测试仪包括主控单元，主控单元通过一路I/O控制电路与第二场效应管相连接利用场效应管做“开关”控制自动过分相主机的“上电”与“断电”；主控单元通过一路I/O控制电路与第三场效应管相连接利用场效应管做“开关”控制自动过分相主机的“I端接入”；主控单元通过一路I/O控制电路与第四场效应管相连接利用场效应管做“开关”控制自动过分相主机的“II端接入”；主控单元通过一路I/O控制电路与第一场效应管相连接，同时主控单元通过SPI总线控制可控精密电阻，结合DC24V产生车感器脉冲输入；输入信号通过主控单元I/O控制电路控制的第一电子继电器、第二电子继电器、第三电子继电器、第四电子继电器分别接入到T1车感器、T2车感器、T3车感器、T4车感器使自动过分相主机被触发；自动过分相主机触发后输出的“预告/恢复”信号、“强迫”信号通过第五电子继电器、第六电子继电器、第一光电耦合电路、第二光电耦合电路输入到主控单元实现自动过分相主机灵敏度的测量；主控单元通过4路I/O控制电路与第一晶体三极管、第二晶体三极管、第三晶体三极管、第四晶体三极管相连接，利用晶体三极管的“开关”特性将固定脉冲宽度的DC5V输入车感器T1、车感器T2、车感器T3、车感器T4触发自动过分相主机“预告/恢复”信号、“强迫”信号输出，主控单元通过I/O控制电路控制第九电子继电器、第十电子继电器使输出信号通过第三光电耦合电路、第四光电耦合电路连接到主控单元以此测量自动过分相主机的脉冲宽度和响应时间；主控单元通过4路I/O控制电路与第一晶体三极管、第二晶体三极管、第三晶体三极管、第四晶体三极管相连接，利用晶体三极管的“开关”特性将固定脉冲宽度的DC5V输入车感器T1、车感器T2、车感器T3、车感器T4触发自动过分相主机“预告/恢复”信号、“强迫”信号输出，主控单元通过I/O控制电路控制第七电子继电器、第八电子继电器使输出信号通过第一精密电阻分压电路、第二精密电阻分压电路、第一隔离运放、第二隔离运放进入主控单元的内部A/D测量出自动过分相主机的输出幅值，同时通过第一驱动能力取样电阻、第二通过驱动能力取样电阻结合I2C总线的外部A/D芯片进入主控单元测量出自动过分相主机的输出驱动能力；所述性能测试方法包括如下步骤：S1，主控单元控制第二场效应管处于“关”状态使主机“上电”；S2，主控单元控制第三场效应管处于“关”状态使主机处于“I端向前”状态；S3，驱动第一电子继电器使第一电子继电器的1脚、3脚接通，驱动第五电子继电器、第六电子继电器使第五电子继电器、第六电子继电器的1脚、3脚接通；S4.1，主控单元通过SPI控制可控精密电阻使初始车感器脉冲输入电压幅值为1.5V；S4.2，主控单元控制第一场效应管处于“关”状态；S4.3，主控单元通过SPI控制可控精密电阻使车感器脉冲输入电压幅值以0.1V不断步进；S4.4，判断输入脉冲电压幅值是否达到可以触发自动过分相主机输出的幅值，若未达到，则重复S4.3，若达到，进行S5；S5，自动过分相主机“强迫”信号输出使第二光电耦合电路导通并输出高电平给主控单元，记录可触发自动过分相主机“强迫”信号输出时的脉冲电压幅值于主控单元的SRAM中；S6，按S4.1－S4.4步骤运行；S7，自动过分相主机“恢复”信号输出使第一光电耦合电路导通并输出高电平给主控单元记录可触发自动过分相主机“恢复”信号输出时的脉冲电压幅值于主控单元的SRAM中；S8，主控单元控制第一场效应管处于“开”状态以此控制脉冲无法输入T1车感器输入口,驱动第一电子继电器、第五电子继电器、第六电子继电器的1、2接通回到初始位；主控单元控制第二场效应管使主机“断电”然后“上电”,驱动第九电子继电器、第十电子继电器使第九电子继电器、第十电子继电器的1、3接通主控单元控制第一晶体三极管“关”使DC5V接入T1车感器输入口,触发主机“强迫”信号输出使第四光电耦合电路输出以此测量出输出主机响应时间并存入SRAM中；S9，主控单元控制第一晶体三极管“开”,通过第四光电耦合电路输出测量出输出脉冲宽度并存入SRAM中；S10，主控单元控制第一晶体三极管“关”, 触发第三光电耦合电路输出以此测量出输出主机响应时间并存入SRAM中；S11，主控单元控制第一晶体三极管“开”通过第三光电耦合电路输出测量出输出脉冲宽度并存入SRAM中；S12,驱动第九电子继电器、第十电子继电器使第九电子继电器、第十电子继电器的1、2接通回到初始位；S13，主控单元控制第二场效应管使主机“断电”然后“上电”, 驱动第七电子继电器、第八电子继电器使第七电子继电器、第八电子继电器的1、3接通, 主控单元控制第一晶体三极管“关”, 触发“强迫”信号输出并通过第二精密电阻分压电路将输出的“强迫”信号分压成主控单元上A/D所能承受的电压值并通过第二隔离运放输入到主控单元上的A/D；主控单元将A/D转换后的数值按第二精密分压电路的分压方式反算回输出的实际值，存于SRAM中；S14，将第二驱动能力取样电阻两端的电压通过I2C的A/D转换后的数值传送给主控单元，主控单元将该数值除以第二驱动能力取样电阻的阻值得到输出的电流值既输出驱动能力，存于SRAM中；S15, 主控单元控制第一晶体三极管“开”然后“关”,触发“恢复”信号输出并通过第一精密电阻分压电路、第一驱动能力取样电阻、第一隔离运放按S13到S14的方法求出驱动能力和输出幅值，存于SRAM中；S16, 主控单元控制第一晶体三极管“开”驱动第七电子继电器、第八电子继电器使第七电子继电器、第八电子继电器的1、2接通回到初始位；S17，将存储于SRAM中的所有数据搬移到CF卡中做掉电不消失的存储；S18, 主控单元控制第二场效应管使主机“断电”等待主机再次“上电”进行其他车感器输入口输入相应脉冲进行性能测试；S19, 结束。