[发明专利]一种半导体行业产品性能测试设备

摘要

本发明公开了一种半导体行业产品性能测试设备，包括主体，主体上设有供料系统、性能测试系统、分档系统、控制系统。本发明通过设置性能测试和分档系统达到了对产品的检测和分档，从而解决了现有技术中半导体行业性能测试设备不具有自动检测及分档的问题。

主权项

1.一种半导体行业产品性能测试设备，包括主体，其特征在于，所述主体上部设有工作台，主体下部设有储物柜，主体底部的四个角上设有滚动滑轮，所述主体上设有N回动作测试（13）、耐压测试（14）、动作力数值测试（15）、瞬断测试（16）、接触阻抗测试（17），所述N回动作测试（13）为一凸轮结构，所述动作力数值测试（15）包括压力传感器、压力示波仪，所述性能测试系统（2）设置在所述主体上部的工作台上，所述性能测试系统包括供料机构（1）、上料机构、测试工位、分档工位（3），所述供料机构设置在所述供料振动盘上，供料振动盘构成的供料结构、供料控制器（10），供料振动盘设置在供料支架平面上，供料控制器（10）设置在工作台上，所述供料机构包括直震体（22），直震体（22）下方固定安装有直震底座（23），所述直震体（22）右端设有到料点（24），所述上料机构包括笔形气缸（20），笔形气缸（20）右侧连接有滑轨（21），滑轨（21）右侧连接有滑台气缸（18），滑台气缸（18）下方设有夹爪气缸（19），所述测试工位设置在所述主体上部的工作台上，所述测试工位包括瞬断接触点（25）和东方马达（26），所述分档工位的设置在主体上部的工作台上，所述分档装置包括不良品分档与良品分档，所述分档工位包括模组（28），模组（28）左侧前方固定安装有滑台气缸（18），滑台气缸（18）下方连接有吸嘴（27），所述控制系统（4）设置在所述主体上部的工作台上，所述控制系统（4）包括电脑装置、警示灯（6）、人机互动装置，所述供料机构（1）将产品送出，依次通过所述N回动作测试（13）系统、耐压测试（14）系统、动作力数值（15）测试、瞬断测试（16）以及接触阻抗测试（17），在所述控制系统（4）的控制下完成测试及分档作业。