[发明专利]一种深度成像超分辨显微成像系统

摘要

本发明公开了一种深度成像超分辨显微系统，包括第一激光器、第一透镜、第一二色镜、第二二色镜、第二激光器、第六透镜、相位调制组件、第三二色镜、变形反射镜、X轴扫描振镜、相位补偿组件、Y轴扫描振镜、竖直光路折转匹配单元、第二四分之一波片、显微物镜、样品台、水平光路折转匹配单元、第一滤光片、波前传感器、第二滤光片、第十透镜、成像器件。该系统利用双光子效应，利用波前传感器和变形反射镜补偿荧光波前相位变化，结合样品台在Z轴方向的移动，在修正样品所带来的像差的同时实现三维深度成像，成像质量更高。

主权项

1.一种深度成像超分辨显微成像系统，其特征在于，包括第一激光器、第一透镜、第一二色镜、第二二色镜、第二激光器、第六透镜、相位调制组件、第三二色镜、变形反射镜、X轴扫描振镜、相位补偿组件、Y轴扫描振镜、竖直光路折转匹配单元、第二四分之一波片、显微物镜、样品台、水平光路折转匹配单元、第一滤光片、波前传感器、第二滤光片、第十透镜、成像器件；所述第一激光器输出的激发光经第一透镜扩束和第一二色镜透射后到达第二二色镜；所述第二激光器输出的损耗光经第六透镜扩束和相位调制组件调相后，到达第二二色镜，与到达第二二色镜的激发光重合，形成重合光；所述重合光经第三二色镜透射和变形反射镜后，再经X轴扫描振镜扫描、相位补偿组件补偿相位、Y轴扫描振镜扫描，最终经过竖直光路折转匹配单元和第二四分之一波片后进入显微物镜，重合光在显微物镜聚焦平面形成分辨率小于衍射极限的聚焦光斑，激发样品台上样品的荧光；所述样品被两种荧光标记，受激发后发射两种波长的荧光；经显微物镜收集的两种波长的荧光沿重合光入射光路原路返回直到入射到第三二色镜，其中一种波长的荧光经第三二色镜反射后，经水平光路折转匹配单元和第一滤光片后被波前传感器探测，根据所述波前传感器件的波前信息控制所述变形反射镜工作；另一种波长的荧光透过第三二色镜，经第二和第一二色镜反射、第二滤光片和第十透镜后进入成像器件实现成像；所述第二二色镜与第三二色镜之间，变形反射镜与X轴扫描振镜之间，X轴扫描振镜与Y轴扫描振镜之间，相位调制组件与第二二色镜之间，设置用于调整光束的望远系统。