[发明专利]一种微波干涉谱测定方法

摘要

本发明公开了一种微波干涉谱测定方法，通过合理的使用金属反射平板及微波天线，可在1～20GHz频段内，获取有效清晰的干涉谱图样。本发明使用器件、设备均是微波测试常用物品，取材方便，设备安装简单，操作实施容易，可行性高，适应性强，在微波测试领域，具有广阔应用前景。

主权项

1.一种微波干涉谱测定方法，其特征在于，包含以下步骤：步骤1），在微波暗室中或地面无强反射波的空旷场地布置发射天线、金属平板和接收天线，使得发射天线、金属平板的几何中心、接收天线在同一平面内，发射天线、接收天线呈垂直极化方向；并且使得发射天线至金属平板几何中心的连线与金属平板法线之间的夹角为30°，即发射天线到金属平板的入射线和金属平板到接收天线的反射线之间的夹角为60°；发射天线至金属平板几何中心的距离h为5m，接收天线至入射线的垂直距离w为2m；步骤2），将发射天线接待测定电磁波的信号源，接收天线接频谱仪，并按照预设的步长沿远离发射天线的方向移动金属平板，记录每次移动后频谱仪的显示数值，直至移动到预设的距离；步骤3），根据记录的数值绘制当前频率的微波干涉谱图样。