[发明专利]一种超分辨荧光波动显微成像方法、装置及存储介质在审
| 申请号： | 201810062369.3 | 申请日： | 2018-01-23 |
| 公开（公告）号： | CN108318464A | 公开（公告）日： | 2018-07-24 |
| 发明（设计）人： | 于斌;吴晶晶;李四维;曹慧群;陈丹妮;屈军乐 | 申请（专利权）人： | 深圳大学 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64 |
| 代理公司： | 深圳市君胜知识产权代理事务所(普通合伙) 44268 | 代理人： | 王永文;刘文求 |
| 地址： | 518060 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种超分辨荧光波动显微成像方法、装置及存储介质，所述超分辨荧光波动显微成像方法为采集经荧光分子标记后的样品通过荧光显微成像系统的若干幅探测图像；对所述探测图像进行傅里叶变换，获得所述若干幅探测图像的傅里叶频谱；设置样品结构和荧光强度波动的初始估计值，基于所述样品结构和荧光强度波动的初始估计值以及若干幅探测图像，根据预设迭代算法进行预设次迭代计算后输出所述样品的成像结果。通过将荧光闪烁的强度变化作为普通结构光成像中所需的随机散斑，并通过迭代算法获得超分辨图像，既不需要额外的实验装置引入结构光，也能在较少的探测次数下提高结构光照明显微成像的分辨率，实现了分辨率与成像成本之间的平衡。 | ||
| 搜索关键词： | 探测图像 显微成像 超分辨 荧光波动 初始估计 存储介质 迭代算法 强度波动 样品结构 分辨率 荧光 预设 荧光显微成像系统 荧光分子标记 傅里叶变换 结构光成像 成像成本 成像结果 迭代计算 强度变化 实验装置 引入结构 荧光闪烁 傅里叶 频谱 散斑 光照 探测 采集 图像 输出 平衡 | ||
【主权项】：
1.一种超分辨荧光波动显微成像方法，其特征在于，包括如下步骤：采集经荧光分子标记后的样品通过荧光显微成像系统的若干幅探测图像；对所述探测图像进行傅里叶变换，获得所述若干幅探测图像的傅里叶频谱；设置样品结构和荧光强度波动的初始估计值，基于所述样品结构和荧光强度波动的初始估计值以及若干幅探测图像的傅里叶频谱，根据预设迭代算法进行预设次迭代计算后输出所述样品的成像结果。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳大学，未经深圳大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201810062369.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
