[发明专利]一种应用于跳频通信的高速超宽带半周期频率检测电路有效
申请号: | 201810054580.0 | 申请日: | 2018-01-19 |
公开(公告)号: | CN108259093B | 公开(公告)日: | 2023-07-14 |
发明(设计)人: | 徐卫林;刘俊昕;孙晓菲;李海鸥;韦保林;段吉海 | 申请(专利权)人: | 桂林电子科技大学 |
主分类号: | H04B17/30 | 分类号: | H04B17/30;H04B1/713 |
代理公司: | 桂林市持衡专利商标事务所有限公司 45107 | 代理人: | 陈跃琳 |
地址: | 541004 广西*** | 国省代码: | 广西;45 |
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摘要: | 本发明公开一种应用于跳频通信的高速超宽带半周期频率检测电路,通过对输入的频率信号分别进行上升沿和下降沿检测,并可在输入信号的半个周期内将频率转换为电压,提出并采用包络检测电容与采样开关结构,对采样电容进行峰值检测并实时跟踪,产生稳定的直流电压信号进行输出。边沿信号互锁控制工作方式,可使电路实现自动检测,自我恢复到初始状态,当检测到新的频率信号时,不需电路外部施加复位或重启信号,使电路对于跳频信号可实现连续检测,并适用于超宽带高速跳频信号的检测。本发明适用于超宽带跳频通信,可满足高速跳频模式,克服传统频率检测电路检测时间过长、检测频带范围窄、可检测频率不高、输出电压纹波抖动大、功耗高等不足。 | ||
搜索关键词: | 一种 应用于 通信 高速 宽带 周期 频率 检测 电路 | ||
【主权项】:
1.一种应用于跳频通信的高速超宽带半周期频率检测电路,其特征是,由MOS管M1‑M37、包络检测电容C1、采样电容C2、电流源I1组成;MOS管M1的栅极和MOS管M2的栅极相连后,形成整个高速超宽带半周期频率检测电路的输入端Vin;MOS管M1和M3的源极与电源VDD连接;MOS管M2和M4的源极与地GND连接;MOS管M1和M2的漏极与MOS管M3和M4的栅极相连;MOS管M3和M4的漏极与MOS管M8和M9的栅极相连;MOS管M5和M7的源极与电源VDD连接;MOS管M6和M8的源极与地GND连接;MOS管M5和M6的漏极与MOS管M7的栅极相连;MOS管M5和M6的栅极与MOS管M7和M8的漏极相连;MOS管M9和M10的源极与电压源VDD连接;MOS管M11和M12的源极与地GND连接;MOS管M10和M11的漏极与MOS管M12的栅极相连;MOS管M10和M11的栅极与MOS管M9和M12的漏极相连;MOS管M13、M15、M18和M19的源极与电源VDD连接;MOS管M14、M16和M17的源极与地GND连接;MOS管M13和M14的栅极与MOS管M18的漏极相连后,接至MOS管M8的漏极;MOS管M19和M20的栅极与MOS管M17的漏极相连后,接至MOS管M9的漏极;MOS管M13和M14的漏极与MOS管M15和M16的栅极相连;MOS管M15和M16的漏极与MOS管M17的栅极相连;MOS管M19和MOS管M20的漏极与MOS管M18的栅极相连;MOS管M21和M23的源极与电源VDD连接;MOS管M22和M24的源极与地GND连接;MOS管M21和M22的栅极与MOS管M8的漏极连接;MOS管M21和M22的漏极与MOS管M23和M24的栅极相连;MOS管M23和M24的漏极与MOS管M29的栅极连接;MOS管M25和M27的源极与电源VDD连接;MOS管M26和M28的源极与地GND连接;MOS管M25和MOS管M26的栅极与MOS管M9的漏极连接;MOS管M25和M26的漏极与MOS管M27和M28的栅极相连;MOS管M27和M28的漏极与MOS管M33的栅极连接;MOS管M29的源极通过电流源I1与电源VDD连接,MOS管M29的漏极与MOS管M33的源极连接,MOS管M33的漏极通过采样电容C2与地GND连接;MOS管M31的源极与电源VDD连接;MOS管M30和M32的源极与地GND连接;MOS管M31和M32的栅极相连后,形成整个高速超宽带半周期频率检测电路的复位端RST;MOS管M31和M32的漏极与MOS管M30的栅极相连;MOS管M30的漏极与MOS管M29的漏极连接;MOS管M34和M9的漏极连接;MOS管M34和M35的栅极相连后,与MOS管M29的栅极连接;MOS管M34和M35的源极与地GND连接;MOS管M35和M33的漏极连接;MOS管M37的栅极连接MOS管M33的栅极;MOS管M36的栅极接MOS管M28的栅极;MOS管M36和M37的源极相连后,与MOS管M35的漏极连接;MOS管M36和M37的漏极相连后,形成整个高速超宽带半周期频率检测电路的输出端Vout;包络检测电容一端与MOS管M36的漏极连接,另一端接地GND。
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