[发明专利]一种阵列太赫兹探测器响应度参数的标定方法和装置有效

专利信息
申请号: 201810029697.3 申请日: 2018-01-12
公开(公告)号: CN108225554B 公开(公告)日: 2020-04-17
发明(设计)人: 方波;戚岑科;章乐;李雪;蔡晋辉;胡佳成 申请(专利权)人: 中国计量大学
主分类号: G01J1/00 分类号: G01J1/00
代理公司: 杭州奥创知识产权代理有限公司 33272 代理人: 王佳健
地址: 310018 浙江省*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明提供了一种阵列太赫兹探测器响应度参数的标定方法和装置。本发明所述装置至少包括太赫兹发射模块、太赫兹接收模块、二维平移装置、光学镜片组、数据采集处理和显示模块等五部分。本发明的阵列太赫兹探测器响应度参数的标定方法和装置使用标准单像元探测器对比的定标方法,可以对阵列太赫兹探测器实现精确定标,降低量值传递的不确定度,并通过在波路中加入监视探测器,消除波源稳定性对于传递结果的影响,使标定结果更准确。
搜索关键词: 一种 阵列 赫兹 探测器 响应 参数 标定 方法 装置
【主权项】:
1.一种阵列太赫兹探测器响应度参数的标定装置,至少包括太赫兹发射模块、太赫兹接收模块、二维平移装置、光学镜片组、数据采集处理和显示模块,其特征在于:所述太赫兹发射模块至少包括单频太赫兹源和驱动电源,所述单频太赫兹源与所述驱动电源连接,所述单频太赫兹源在所述驱动电源驱动下辐射出单频太赫兹波;所述太赫兹接收模块至少包括标准单像元探测器、待测阵列探测器和监视探测器,所述标准单像元探测器用于计量标准实现量值溯源;所述监视探测器用于消除太赫兹波源稳定性对于传递结果的影响;所述二维平移装置至少包括精密平移台和多个夹具,所述精密平移台和夹具用于装夹所述标准单像元探测器和所述待测阵列探测器,并通过计算机控制所述标准单像元探测器和所述待测阵列探测器进行切换,使两探测器分别移入波路;所述光学镜片组至少包括一组抛物面反射镜、一块分光镜和一个矩形光阑;所述抛物面反射镜一块放置于所述单频太赫兹源一侧,用于将发散的太赫兹光转变为平行光;所述抛物面反射镜另一块放置于所述分光镜后,用于将平行的太赫兹光进行汇聚;所述矩形光阑用于通光并使单频太赫兹波形成矩形光斑;所述数据采集处理和显示模块至少包括测量信号放大电路和示波器,所述测量信号放大电路用于将探测器输出的电压值进行放大,所述示波器分别与所述驱动电源,所述标准单像元探测器,所述待测阵列探测器和所述监视探测器连接,用于对信号进行显示和读取。
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