[发明专利]时间交错模数转换器在审

专利信息
申请号: 201780097900.4 申请日: 2017-12-22
公开(公告)号: CN111512557A 公开(公告)日: 2020-08-07
发明(设计)人: 拉尔斯·桑德斯特罗姆;达尼埃莱·马斯坦托诺;马蒂亚斯·帕尔姆 申请(专利权)人: 瑞典爱立信有限公司
主分类号: H03M1/10 分类号: H03M1/10;G11C27/02
代理公司: 北京德琦知识产权代理有限公司 11018 代理人: 于会玲;宋志强
地址: 瑞典斯*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 公开了一种ADC(50)。ADC(50)包括被配置为以时间交错方式操作的多个子ADC(A1‑AM)和被配置为接收ADC(50)的模拟输入信号的采样电路(60),其中,采样电路(60)对于所有的子ADC(A1‑AM)是公共的。ADC(50)进一步包括被配置为生成用于ADC(50)的校准的测试信号的测试信号生成电路(65)。采样电路(60)具有被配置为接收模拟输入信号的第一输入(61)和被配置为接收测试信号的第二输入(62);采样电路(60)包括放大器电路(90)和被连接在放大器电路(90)的输出与放大器电路(90)的输入之间的第一反馈开关(s1)。第一反馈开关(s1)被配置为在第一时钟相位期间闭合而在与第一时钟相位不重叠的第二时钟相位期间断开。另外,采样电路(60)包括输入电路(95),输入电路(95)包括一个或多个电容器(C1、C2),每个电容器具有第一节点和第二节点。此外,采样电路(60)包括采样开关(100),采样开关(100)将第一输入(61)和第二输入(62)与输入电路(95)中的电容器(C1、C2)的节点进行连接,以对被表示为输入电路(95)中的电容器上的电荷的模拟输入信号和测试信号进行采样。输入电路(95)中的电容器中的每个电容器被配置为在第二时钟相位期间利用该每个电容器的第二节点连接到放大器电路(90)的输入。采样电路(60)包括被连接在放大器电路(90)的输出与输入电路(95)中的电容器(C1)中的至少一个电容器的第一节点之间的第二反馈开关(s2),其中,第二反馈开关被配置为在第二时钟相位期间闭合而在第一时钟相位期间断开。
搜索关键词: 时间 交错 转换器
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  • 袁承范;孙德滔;程志勇;梅燃燃;刘敏;梅浩;陈焱国;郭利文;吴洪升 - 深圳市微特精密科技股份有限公司
  • 2023-07-12 - 2023-10-03 - H03M1/10
  • 本申请涉及自动化测试技术领域,特别是涉及一种ADC补偿的高精度测量校准辅助装置及方法,包括校准架以及安装在校准架上的安装环,所述安装环内转动设置有转动轨道,且所述安装环轴线上设置有校准箱以及校准箱内设置有用于测量校准的高精度测量校准仪,所述校准箱转动安装在安装环上延伸的连接板上;本发明通过多个校准辅助器可以同时进行多次的测量校准,同时通过方形定位臂和方形延伸臂能够取代传统的通过导线直接连接,可以避免在测量校准过程中出现接口的松动和导线的挪动而影响校准效果的问题;本发明能够对所有待测电压区间进行校准并且保证都为达到精度指标的有效校准点,降低数据的存储容量,节省存储空间,减少测试时间。
  • 一种基于双校准的低失调低功耗动态比较器-202310880131.2
  • 魏榕山;郑智建;周圻坤;魏聪;黄黎杰 - 福州大学
  • 2023-07-18 - 2023-10-03 - H03M1/10
  • 本发明涉及一种基于双校准的低失调低功耗动态比较器。包括比较器输入单元、动态前置预放大器、动态锁存器、DAC校准单元以及时钟产生电路五个模块,有校准状态与比较状态两种工作状态,时钟产生电路根据比较器时钟CLKC和控制信号CA生成第一级校准时钟CLK1、第二级校准时钟CLK2和计数器复位信号RESET,根据这三个信号的变化,该比较器先后完成两次校准,随后进入比较状态。本发明的内置比较器为动态前置预放大器和动态锁存器构成,无需考虑静态功耗,并且通过5bit DAC校准单元两次改变衬底电位的方案,最终使得本发明达到了低失调低功耗的效果。
  • 数模转换器校准方法、装置和显示设备-202311116693.6
  • 马飞;赵博华;黄苒;孙雷 - 北京数字光芯集成电路设计有限公司
  • 2023-09-01 - 2023-10-03 - H03M1/10
  • 本发明涉及电数字数据处理技术领域,本发明实施例公开了一种数模转换器校准方法、装置和显示设备,其中所述方法包括:向待校准DAC输入第一类型校准序列;将所述待校准DAC输出的模拟信号转换为第一数字信号;根据所述第一类型校准序列的各个数值和所述第一数字信号的各个数值之间的第一差值得到静态误差;向所述待校准DAC输入第二类型校准序列;将所述待校准DAC输出的模拟信号转换为第二数字信号;根据所述第二类型校准序列的各个数值、所述第二数字信号的各个数值以及对应的所述静态误差之间的第二差值得到动态误差,使DAC得到准确的模拟输出值,解决了DAC模拟输出精度不高的问题,满足了高精度数模转换应用场景的需求。
  • 一种对高速模数转换器进行测试的系统及方法-202310883947.0
  • 白雪;徐雷钧;陶长恒;杨旸;舒鹏 - 江苏大学
  • 2023-07-18 - 2023-10-03 - H03M1/10
  • 本申请提供一种对高速模数转换器进行测试的系统及方法,所述高速模数转换器芯片测试系统包括一种测试用电路板和一种测试流程方法;所述测试用电路板作为高速模数转换器芯片的测试搭载平台,为待测芯片提供基本外围工作电路,并将其与测试机相连接,完成硬件设置;所述测试流程方法基于C++编程语言设计,用于对高速模数转换器芯片进行OSN测试、ADC静态测试和ADC动态测试等。基于上述测试系统,本申请实施例对高速模数转换器芯片进行了测试,在保证高精度、高速度、高准确性的同时降低了测试成本,简化了测试步骤。
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