[发明专利]太赫兹测量仪

摘要

本发明涉及一种用于求取检查对象（20、120、220）的至少一个层厚度（a1、a2、a3、a4）的太赫兹测量仪（1），其中，测量仪（1）具有：用于沿着光学轴线（A）发射太赫兹辐射（15）和用于沿着光学轴线（A）接收所反射的太赫兹辐射（16）的太赫兹发射和接收单元（14）、用于操控该发射和接收单元（14）的控制单元（10）。在此，所述太赫兹测量仪（1）优选是能携带的，并且具有用于由用户抓握和定位的把手区域（34），其中，该太赫兹测量仪在前端部区域（5）、特别是成形遮光板（5）上具有贴靠轮廓（7），该贴靠轮廓有多个贴靠点（P、P1、P2、P3、P4）以用于贴靠在检查对象（20、120、220）的弯曲的表面（18）上，以便垂直地定位在表面（18、118、218）上。

主权项

1.用于求取检查对象（20、120、220）的至少一个层厚度（a1、a2、a3、a4）的太赫兹测量仪（1），其中，该测量仪（1）具有：用于沿着光学轴线（A）发射太赫兹辐射（15）和用于沿着所述光学轴线（A）接收所反射的太赫兹辐射（16）的太赫兹发射和接收单元（14），用于操控该发射和接收单元（14）的控制单元（10），其特征在于，该太赫兹测量仪具有用于由用户抓握和定位的把手区域（34），并且该太赫兹测量仪在前端部区域（5）上具有贴靠轮廓（7），该贴靠轮廓有多个贴靠点（P、P1、P2、P3、P4）以用于贴靠在所述检查对象（20、120、220）的弯曲的表面（18）上，以便将所述光学轴线（A）垂直地定位在表面（18、118、218）上。