[发明专利]用于计算辐射治疗的注量图的方法和系统有效

专利信息
申请号: 201780022728.6 申请日: 2017-03-09
公开(公告)号: CN109152928B 公开(公告)日: 2021-05-28
发明(设计)人: D·奥康纳;Y·沃罗年科 申请(专利权)人: 反射医疗公司
主分类号: A61N5/10 分类号: A61N5/10
代理公司: 北京市中咨律师事务所 11247 代理人: 杨晓光;于静
地址: 美国加利*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 本文描述了用于辐射治疗的注量图产生或注量图优化(FMO)的方法。用于产生注量图的方法的一种变型包括平滑不可微分的惩罚函数并使用加速近端梯度法(例如,FISTA)来计算注量图,该注量图可以由放射疗法系统用于将选定剂量的辐射施加到一个或多个感兴趣区域(ROI)或感兴趣体积(VOI)。
搜索关键词: 用于 计算 辐射 治疗 注量图 方法 系统
【主权项】:
1.一种用于计算辐射治疗的注量图的方法,所述方法包括:选择感兴趣体积;选择所述感兴趣体积内的多个体素,其中每个体素具有可接受的剂量范围;选择候选细光束集合b={bi},其具有初始细光束强度权重x0={xi0};基于所述候选细光束集合b计算所述感兴趣体积的剂量矩阵A,其中所述剂量矩阵A表示由所述候选细光束集合b递送给所述多个体素中的每一个的每体素剂量;以及通过用包含一个或多个线性惩罚的惩罚函数根据近端梯度法(xk‑1→xk)调整初始细光束强度权重来计算具有最终细光束强度权重集合xk的注量图,所述近端梯度法迭代所述初始细光束强度权重,直到经调整的细光束强度权重收敛于最终的细光束强度权重集合,使得所述细光束强度权重的迭代之间的变化小于预定的残差标准。
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