[发明专利]抗开裂的防伪标签有效
| 申请号： | 201780015392.0 | 申请日： | 2017-03-06 |
| 公开（公告）号： | CN108713292B | 公开（公告）日： | 2021-06-08 |
| 发明（设计）人： | G·布瓦龙;T·圭德特;N·加森德 | 申请（专利权）人： | 维思电钥半导体公司 |
| 主分类号： | H04B5/00 | 分类号： | H04B5/00;B65D55/06;G06K19/073;G06K19/077 |
| 代理公司： | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人： | 杨晓光;于静 |
| 地址： | 法国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种近场磁耦合防伪标签，其包括延伸通过标签的牺牲区(10‑2、10‑3)的牺牲导体路径(14)。延伸通过牺牲区的牺牲路径的每个分段纵向分成多个子分段(20)，子分段在分段的端部彼此电接触。 | ||
| 搜索关键词： | 开裂 防伪 标签 | ||
【主权项】：
1.一种近场磁耦合防伪标识，包括跨所述标识的牺牲区(10‑2、10‑3)的牺牲导电轨道(14)；其特征在于，跨所述牺牲区的所述牺牲轨道的每个分段纵向分成多个子分段(20)，所述子分段在所述分段的端部彼此电接触。
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