[实用新型]镀层测厚仪有效

专利信息
申请号: 201720814613.8 申请日: 2017-07-06
公开(公告)号: CN207095508U 公开(公告)日: 2018-03-13
发明(设计)人: 薛灿 申请(专利权)人: 深圳市林上科技有限公司
主分类号: G01B11/06 分类号: G01B11/06
代理公司: 深圳中一联合知识产权代理有限公司44414 代理人: 张全文
地址: 518000 广东省深圳市宝安区*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型提供了一种镀层测厚仪,包括控制器、至少一个与控制器相连接的测试点组,测试点组包括与控制器电连接的光源探头和接收探头,光源探头和接收探头相对设置,光源探头包括具有第一开口的光源探头座、盖合于第一开口处的光源探头盖,以及设于光源探头座内的光源组件,光源探头盖上设有第一透光板,第一透光板与光源探头座通过第一密封圈密封。本实用新型提供的镀层测厚仪,光源探头和接收探头之间相互独立,能够方便对测试安装的位置进行调整,且结构更加简单,现场安装更为方便,第一透光板和光源探头座之间通过第一密封圈相连接,能够有效地避免粉尘进入到光源探头的内部,增长光源探头的使用寿命,且清洁操作简单方便。
搜索关键词: 镀层 测厚仪
【主权项】:
镀层测厚仪,其特征在于:包括控制器、至少一个与所述控制器相连接的测试点组,所述测试点组包括与所述控制器电连接的光源探头和接收探头,所述光源探头和所述接收探头相对设置,所述光源探头包括具有第一开口的光源探头座、盖合于所述第一开口处的光源探头盖,以及设于所述光源探头座内的光源组件,所述光源探头盖上设有第一透光板,所述第一透光板与所述光源探头座通过第一密封圈密封。
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