[实用新型]一种Kinect测距修正光子数的电晕放电检测装置有效

专利信息
申请号: 201720685115.8 申请日: 2017-06-12
公开(公告)号: CN207650335U 公开(公告)日: 2018-07-24
发明(设计)人: 崔昊杨;李鑫;霍思佳;葛晨航;郭文诚;马宏伟;李亚;刘晨斐;束江;曾俊冬;黄琼;江超;卞正兰;陈磊;李高芳;唐忠 申请(专利权)人: 上海电力学院
主分类号: G01R31/12 分类号: G01R31/12;G08C17/02
代理公司: 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 代理人: 翁惠瑜
地址: 200090 *** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 实用新型涉及一种Kinect测距修正光子数的电晕放电检测装置,包括:固定底座;二自由度云台,设置于固定底座上;组合检测模块,设置于二自由度云台上,集成有Kinect深度传感器和日全盲紫外成像仪;控制处理模块,分别连接二自由度云台、Kinect深度传感器和日全盲紫外成像仪,控制二自由度云台运动,并接收Kinect深度传感器和日全盲紫外成像仪的测量信号,实现电晕放电检测与修正。与现有技术相比,本实用新型具有修正精度高、结构简单等优点,解决了传统电力设备表面电晕放电光子数距离修正不精确问题。
搜索关键词: 电晕放电检测 二自由度云台 深度传感器 光子数 修正 测距 本实用新型 紫外成像仪 固定底座 控制处理模块 测量信号 传统电力 电晕放电 二自由度 距离修正 设备表面 紫外成像 组合检测
【主权项】:
1.一种Kinect测距修正光子数的电晕放电检测装置,其特征在于,包括:固定底座;二自由度云台,设置于固定底座上;组合检测模块,设置于二自由度云台上,集成有Kinect深度传感器和日全盲紫外成像仪;控制处理模块,分别连接二自由度云台、Kinect深度传感器和日全盲紫外成像仪,控制二自由度云台运动,并接收Kinect深度传感器和日全盲紫外成像仪的测量信号,实现电晕放电检测与修正;所述组合检测模块包括机壳,所述Kinect深度传感器和日全盲紫外成像仪上下贴合安装于所述机壳内,所述Kinect深度传感器和日全盲紫外成像仪的朝向相同,且贴合于机壳的同一侧面;所述控制处理模块包括依次连接的CPU、无线通讯模块和上位机,所述CPU分别连接二自由度云台、Kinect深度传感器和日全盲紫外成像仪,所述CPU和无线通讯模块集成于二自由度云台内。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海电力学院,未经上海电力学院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201720685115.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top