[实用新型]光检查装置有效
| 申请号： | 201720114340.6 | 申请日： | 2017-02-07 |
| 公开（公告）号： | CN206515240U | 公开（公告）日： | 2017-09-22 |
| 发明（设计）人： | 近藤雅;广濑修;中谷诚;铃木亮民;樽本祥宪 | 申请（专利权）人： | 株式会社石田 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司11240 | 代理人： | 田喜庆,吴孟秋 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本实用新型提供了能够高精度地发现被检查物中包含的异物的光检查装置。本实用新型的光检查装置包括输送部，输送被检查物；激发光照射部，在检查区域，向被检查物照射用于使异物产生荧光的激发光；光检测部，在检查区域检测荧光；以及处理部，根据从光检测部输出的信号，生成被检查物的图像，在输送部设置有箱体，该箱体从外部的光遮蔽检查区域。 | ||
| 搜索关键词： | 检查 装置 | ||
【主权项】：
一种光检查装置，其特征在于，包括：输送部，输送被检查物；激发光照射部，在检查区域，向所述被检查物照射用于使异物产生荧光的激发光；光检测部，在所述检查区域检测所述荧光；以及处理部，根据从所述光检测部输出的信号，生成所述被检查物的图像，在所述输送部设置有箱体，所述箱体从外部的光遮蔽所述检查区域。
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