[发明专利]激励生成装置、芯片验证装置及系统有效
| 申请号： | 201711484726.7 | 申请日： | 2017-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN109992804B | 公开（公告）日： | 2020-01-14 |
| 发明（设计）人： | 不公告发明人 | 申请（专利权）人： | 中科寒武纪科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/398 | 分类号： | G06F30/398;G06F111/04 |
| 代理公司： | 11606 北京华进京联知识产权代理有限公司 | 代理人： | 孙岩 |
| 地址： | 100191 北京市海*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及本发明提出的一种激励生成装置、芯片验证装置及系统，随机约束文件生成模块，用于根据芯片需验证的信息随机生成约束文件；模板库，用于存储所述约束文件；解析模块，用于解析所述约束文件，得到第一约束条件；条件调整模块，用于调整所述约束文件中第一约束条件，得到第二约束条件；激励生成模块，用于根据所述第一约束条件或所述第二约束条件生成验证激励。该激励生成装置可以提供了更加多样的激励生成机制，可以得到更多类型的验证激励，这样不仅利于全面进行芯片验证，且利于快速的提升覆盖率，提高芯片验证效率。 | ||
| 搜索关键词： | 约束条件 芯片验证 约束文件 生成装置 装置及系统 验证 文件生成模块 解析模块 生成模块 随机生成 随机约束 条件调整 多类型 模板库 解析 存储 芯片 覆盖率 | ||
【主权项】：
1.一种激励生成装置，其特征在于，包括：/n随机约束文件生成模块，用于根据芯片需验证的信息随机生成约束文件；/n模板库，用于存储所述约束文件；/n解析模块，用于解析所述约束文件，得到第一约束条件；/n条件调整模块，用于调整所述约束文件中第一约束条件，得到第二约束条件；/n激励生成模块，用于根据所述第一约束条件或所述第二约束条件生成验证激励；/n数据分析模块，用于对芯片验证的覆盖率数据进行数据分析，得到与激励对应的覆盖率提升值，并将与各所述激励对应的覆盖率提升值和第一预设阈值进行比较，得到目标激励；/n所述解析模块还用于对所述目标激励对应的约束文件进行解析，得到第一约束条件。/n
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中科寒武纪科技股份有限公司，未经中科寒武纪科技股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201711484726.7/，转载请声明来源钻瓜专利网。
