[发明专利]测量系统及测量结构有效

专利信息
申请号: 201711448769.X 申请日: 2017-12-27
公开(公告)号: CN108106544B 公开(公告)日: 2020-08-04
发明(设计)人: 贾宇航;卢宏军;职连杰;李建强;贾治国 申请(专利权)人: 河南中原光电测控技术有限公司
主分类号: G01B11/02 分类号: G01B11/02
代理公司: 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 代理人: 吴迪
地址: 450000 河南*** 国省代码: 河南;41
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摘要: 发明涉及激光技术领域,提供一种测量系统及测量结构。该测量系统包括柱面镜装置、成像装置以及运算处理装置,能够测量激光器所发射的点状光束的光束宽度。测量时,激光器、柱面镜装置以及成像装置的连线为一直线,运算处理装置与成像装置连接。激光器发射的点状光束入射至柱面镜装置后,柱面镜装置将点状光束展开为条状光束,并使条状光束出射至成像装置,该条状光束与点状光束的光束宽度相同。在成像装置生成与条状光束对应的成像信号后,运算处理装置从成像装置获取成像信号,并基于成像信号计算获得条状光束的光束宽度。该光束宽度可以用于指导激光器光束直线度的调节。该测量系统测量精度高,测量过程简单快速,无需人工介入。
搜索关键词: 测量 系统 结构
【主权项】:
1.一种测量系统,用于测量激光器所发射的点状光束的光束宽度,其特征在于,包括:柱面镜装置、成像装置以及运算处理装置;所述激光器、所述柱面镜装置以及所述成像装置的连线为一直线,所述运算处理装置与所述成像装置连接;所述点状光束入射至所述柱面镜装置后,所述柱面镜装置将所述点状光束展开为条状光束,并使所述条状光束出射至所述成像装置,其中,所述条状光束与所述点状光束的光束宽度相同;在所述成像装置生成与所述条状光束对应的成像信号后,所述运算处理装置从所述成像装置获取所述成像信号,并基于所述成像信号计算获得所述条状光束的光束宽度。
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