[发明专利]光感式表面缺陷检测设备在审
申请号: | 201711437356.1 | 申请日: | 2017-12-26 |
公开(公告)号: | CN108051447A | 公开(公告)日: | 2018-05-18 |
发明(设计)人: | 董宁;刘文秋;黄庆 | 申请(专利权)人: | 华测检测认证集团股份有限公司 |
主分类号: | G01N21/88 | 分类号: | G01N21/88 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 518101 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明公开了一种光感式表面缺陷检测设备,其运动系统包括第三滑动机构、相对设置的第一滑动机构及第二滑动机构;第一滑动机构包括第一X滑动机构及第一Y滑动机构,且第一Y滑动机构设于第一X滑动机构上;第二滑动机构包括第二X滑动机构及第二Y滑动机构,且第二Y滑动机构设于第二X滑动机构上;第三滑动机构包括Z滑动机构,Z滑动机构设于第一Y滑动机构上;其摄像系统包括摄像头、上夹板机构及下夹板机构;上夹板机构装设于Z滑动机构上,且为透明结构;下夹板机构设于第二Y滑动机构上,被测球体被夹设于上夹板机构与下夹板机构之间。本发明是一种能够极大地提高检测的精确度、重复性高、方便图像分析和打印的光感式表面缺陷检测设备。 | ||
搜索关键词: | 光感式 表面 缺陷 检测 设备 | ||
【主权项】:
1.一种光感式表面缺陷检测设备,用于测量球体的表面缺陷,其特征在于,包括:支架,所述支架包括底板及设于所述底板两侧的立柱,及跨设于所述立柱上的横梁;运动系统,所述运动系统包括第三滑动机构、相对设置的第一滑动机构及第二滑动机构;所述第一滑动机构包括第一X滑动机构及第一Y滑动机构,且所述第一Y滑动机构设于所述第一X滑动机构上;所述第二滑动机构包括第二X滑动机构及第二Y滑动机构,且所述第二Y滑动机构设于所述第二X滑动机构上;所述第三滑动机构包括Z滑动机构,所述Z滑动机构设于所述第一Y滑动机构上;摄像系统,所述摄像系统包括摄像头、光源、上夹板机构及下夹板机构;所述摄像头与被测球体分别位于环形光源的正上方与正下方;所述上夹板机构装设于所述Z滑动机构上,且为透明结构;所述下夹板机构设于所述第二Y滑动机构上,被测球体被夹设于所述上夹板机构与下夹板机构之间,所述运动系统驱动所述上夹板机构及下夹板机构做反向运动,带动所述被测球体进行原地滚动,所述摄像头对所述被测球体的图像进行采集。
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