[发明专利]射频测试设备固定装置及射频测试系统有效
申请号: | 201711339262.0 | 申请日: | 2017-12-14 |
公开(公告)号: | CN108132367B | 公开(公告)日: | 2020-09-29 |
发明(设计)人: | 纪永波 | 申请(专利权)人: | 上海闻泰电子科技有限公司 |
主分类号: | G01R1/20 | 分类号: | G01R1/20;G01R1/04;G01R31/00 |
代理公司: | 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 | 代理人: | 毕翔宇 |
地址: | 200001 上海市黄浦*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明是一种射频测试设备固定装置及射频测试系统,涉及通讯测试设备技术领域,为解决现有PCBA电路板测试稳定性差且测试效率较低的问题而设计。该射频测试设备固定装置包括能够相对射频测试设备运动的承载平台和用于保证二者相对位移量的弹性件,承载平台的承载面凸出于射频测试设备的测试部位设置。PCBA电路板置于承载面上,当下压PCBA电路板至弹性件的变形量最大时,测试部位与PCBA电路板的待测部充分接触。该射频测试系统包括射频测试设备、综测仪和上述射频测试设备固定装置。本发明提供的射频测试设备固定装置及射频测试系统用于对PCBA电路板进行测试。 | ||
搜索关键词: | 射频 测试 设备 固定 装置 系统 | ||
【主权项】:
一种射频测试设备固定装置,其特征在于,包括能够相对射频测试设备运动的承载平台和用于保证二者相对位移量的弹性件,所述承载平台的承载面凸出于所述射频测试设备的测试部位设置;PCBA电路板置于所述承载面上,当下压所述PCBA电路板至所述弹性件的变形量最大时,所述测试部位与所述PCBA电路板的待测部充分接触。
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