[发明专利]测定石墨烯粉体中阴离子含量的方法在审

专利信息
申请号: 201711337722.6 申请日: 2017-12-14
公开(公告)号: CN108181421A 公开(公告)日: 2018-06-19
发明(设计)人: 刘伟丽;胡光辉;李琴梅;张婷婷;乐胜峰;白云;魏晓晓;高峡 申请(专利权)人: 北京市理化分析测试中心
主分类号: G01N30/96 分类号: G01N30/96;G01N30/02
代理公司: 上海上大专利事务所(普通合伙) 31205 代理人: 于慧
地址: 100094 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及一种测定石墨烯粉体中阴离子含量的方法,包括以下步骤:1)、样品的冷冻研磨;2)、样品的提取;3)、过滤;4)、色谱检测;5)、将检测曲线与标准曲线比较,根据峰面积计算阴离子含量。本发明的方法灵敏度高、可同时测定多个离子成分,并且操作容易、结果稳定可靠。
搜索关键词: 阴离子 石墨烯粉体 峰面积计算 标准曲线 冷冻研磨 色谱检测 灵敏度 过滤 离子 检测
【主权项】:
1.测定石墨烯粉体中阴离子含量的方法,包括以下步骤:1)、样品的研磨:称取石墨烯样品,进行研磨得到可在水中完全浸润的片状石墨烯颗粒;2)、样品的提取:将所得颗粒分散在盛有水的容器中,经涡旋混匀后对其中阴离子进行提取;3)、过滤:将超声后的液体经水性滤膜针头滤器过滤;4)、色谱检测取经步骤3)过滤得到的清液用离子色谱仪通过梯度淋洗法检测阴离子;5)、将检测曲线与标准曲线比较,根据峰面积计算阴离子含量。
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