[发明专利]一种假冒翻新塑封元器件的识别方法

摘要

本发明涉及一种假冒翻新塑封元器件的识别方法，涉及电子元器件的筛选检测技术领域。本发明采用激光束照射元器件的表面，使其表面的涂层发生瞬间剥离，高速有效清除元器件表面的涂层，显现出元器件原有的标记。这种非机械、非化学方法去除涂层的效率高，精确度易控制，易于选区定位，且适用于不同封装器件的特点，不受器件封装限制，克服了机械打磨涂层不精确、化学方法去涂层不环保、x射线检查、声学扫描显微镜检查、开封后不具备内部目检条件的问题。采用本发明可降低检测成本、提高了识别效率，不会造成环境污染。

主权项

1.一种假冒翻新塑封元器件的识别方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、在可完成非金属材质打印的激光定位平台上，调整Z轴行程，完成激光束焦距的调节，并在调焦片上试打，所采用的激光波长为1064nm；S2、调低激光束当前功率，并控制在2W至3W，调整激光移动速度为700mm/S至1000mm/S、频率在30KHZ以下；S3、将待处理元器件放在激光定位平台上，调焦片放在待处理元器件上，重新微调焦距，在调焦片上试打；S4、取下调焦片，将待处元器件放置在激光指示区域内，设置激光刻蚀区域与芯片本体大小相同或差异在预设范围内；S5、在待处理元器件上刻蚀，完成第一次后，目检待处理元器件表面的涂层清除情况，继续刻蚀，逐渐获得由浅入深的刻蚀深度，观察待处理元器件的原有标记是否显现，从而对待处理元器件的真假进行识别。