[发明专利]基于化工TE过程的双主元-动态核主元分析故障诊断方法

摘要

本发明公开了一种基于化工TE过程的双主元‑动态核主元分析故障诊断方法，本发明所述方法利用DOD算法确定过程数据的最佳参数阶次，生成的动态矩阵在核主元空间中投影后，先利用R主元方法对高维噪声的抑制能力有效确定正常状态数据在核特征空间的主元个数，并生成故障检测高维空间的T2、SPE控制限；再利用CPV方法最大程度保留故障信息，从待检测数据中确定新的主元个数，重新计算出T2、SPE统计量进行故障的监控与检测。本发明所述的DME‑DKPCA法有效提高了故障检测的识别率，较DKPCA法具有更优良的模型精度。

主权项

1.基于化工TE过程的双主元-动态核主元分析故障诊断方法，其特征在于，包括：构建双主元-动态核主元步骤和故障诊断步骤；所述构建双主元-动态核主元步骤包括：第一步，(011)选取正常样本数据，计算平均值和标准差，并对样本数据标准化处理，构建训练矩阵X；(012)确定最佳阶次h，生成动态矩阵Xt；(013)利用核函数投影，得到核矩阵K，同时K核矩阵中心化得到Knew；(014)将Knew进行特征矢量分解，运用统计学的剔除法确定R主元数目A；(015)根据R主元数目A计算获得T2和SPE控制限；和第二步，(021)采集一个新样本数据，计算平均值和标准差，并对样本数据标准化处理，构建测试矩阵(022)确定最佳阶次h’，生成动态矩阵(023)利用核函数投影，得到核矩阵同时核矩阵中心化得到(024)将进行特征矢量分解，运用累计方差贡献率准则确定CPV主元数目B；(025)根据CPV主元数目B计算获得T2统计量和SPE统计量；所述故障诊断步骤为：将构建双主元-动态核主元步骤中(015)步骤和(025)步骤中获得的数据进行比较，若T2统计量和SPE统计量超控制限则表示故障，没超控制限表示运行正常。