[发明专利]一种利用CdTe量子点测定齐帕特罗的方法

摘要

本发明公开一种利用CdTe量子点测定齐帕特罗的方法，包括：制备CdTe‑齐帕特罗抗体；制备包被有齐帕特罗抗原的酶标板；向酶标板各孔加入系列浓度的齐帕特罗标准溶液和CdTe‑齐帕特罗抗体溶液，同时设置空白对照组，温育、洗涤；测定酶标板中各孔的荧光强度F，空白对照组的荧光强度为F0，计算抑制率I＝(F–F0)/(Fmax‑F0)，以抑制率为纵坐标，以齐帕特罗标准溶液浓度的对数为横坐标，绘制标准曲线；将待测样品与CdTe‑齐帕特罗抗体溶液加入酶标板，温育、洗涤，测定荧光强度，代入标准曲线，即得待测样品中齐帕特罗的浓度。本发明利用CdTe量子点测定齐帕特罗，检测成本低，检测时间短，灵敏度高，特异性好。

主权项

1.一种利用CdTe量子点测定齐帕特罗的方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、将表面具有羧基的CdTe量子点与齐帕特罗抗体偶联，得CdTe-齐帕特罗抗体，备用；S2、制备包被有齐帕特罗抗原的酶标板；S3、向步骤S2中的酶标板的各孔加入经缓冲液稀释的系列浓度的齐帕特罗标准溶液和CdTe-齐帕特罗抗体溶液，同时设置空白对照组，向所述空白对照组中加入缓冲液和CdTe-齐帕特罗抗体溶液，进行温育，然后洗涤酶标板；S4、测定步骤S3中洗涤后的酶标板中各孔的荧光强度F，空白对照组的荧光强度为F0，计算抑制率＝(F–F0)/(Fmax-F0)，以抑制率为纵坐标，以齐帕特罗标准溶液的浓度的对数为横坐标，绘制标准曲线；S5、将待测样品与CdTe-齐帕特罗抗体溶液加入步骤S2中的所述酶标板中，经温育、洗涤，测定荧光强度，代入所述标准曲线，定量检测所述待测样品中齐帕特罗的浓度。