[发明专利]一种具有探针压合的宏观检测设备在审
申请号: | 201711309030.0 | 申请日: | 2017-12-11 |
公开(公告)号: | CN107957635A | 公开(公告)日: | 2018-04-24 |
发明(设计)人: | 许玉佩 | 申请(专利权)人: | 苏州精濑光电有限公司 |
主分类号: | G02F1/13 | 分类号: | G02F1/13 |
代理公司: | 武汉开元知识产权代理有限公司42104 | 代理人: | 黄行军 |
地址: | 215214 江苏省苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种具有探针压合的宏观检测设备。它包括安装于工作台上的探针总组,所述探针总组包括探针装置、两个Z轴模组、两个X轴模组、两个Y轴模组、第一安装板和第二安装板,所述第一安装板两端分别与两个Z轴模组连接,两个X轴模组并排安装于第一安装板上,两个Y轴模组分别安装于第一安装板两端;所述第二安装板分别通过轴承安装于X轴模组和Y轴模组的导轨上,所述探针装置安装于第二安装板的侧边。本发明在待测模组的四周分别设置探针总组,每个探针总组上设置多个探针装置,一次可对待测模组多个位置进行压接,有效提高了液晶模组的检测效率。 | ||
搜索关键词: | 一种 具有 探针 宏观 检测 设备 | ||
【主权项】:
一种具有探针压合的宏观检测设备,包含工作台(11),工作台上设置用于固定待测模组的吸附支撑件(12),其特征在于:还包括安装于工作台上位于待测模组四周用于与待测模组进行压合的探针总组(1),所述探针总组(1)包括:探针装置(5)、用于调整探针装置Z轴方向位移的两个Z轴模组(4)、用于调整探针装置X轴方向位移的两个X轴模组(2)、用于调整探针装置Y轴方向位移及旋转角度的两个Y轴模组(3)、第一安装板(6)和第二安装板(7),所述第一安装板(6)两端分别与两个Z轴模组(4)连接,两个X轴模组(2)并排安装于第一安装板(6)上,两个Y轴模组(3)分别安装于第一安装板(6)两端;所述第二安装板(7)分别通过轴承安装于X轴模组(2)和Y轴模组(3)的导轨上,所述探针装置(5)安装于第二安装板(7)的侧边。
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