[发明专利]一种动态光电显微镜瞄准信号光调制校准方法及装置有效

专利信息
申请号: 201711306080.3 申请日: 2017-12-11
公开(公告)号: CN108007392B 公开(公告)日: 2019-10-08
发明(设计)人: 朱振宇;李华丰;任冬梅;王霁;李强 申请(专利权)人: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
主分类号: G01B11/26 分类号: G01B11/26;G01B11/02
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100095*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及一种动态光电显微镜瞄准信号光调制校准方法及装置,属于光电测量技术领域。方法为:可调控的钟形波电信号加载于发光电子器件之上产生信号光;信号光分为相同的两路,一路信号光经转换变成电信号并传输给上位机;另一路信号光传输给动态光电显微镜,动态光电显微镜输出电信号传输给上位机;两路电信号进行对比,即实现校准。装置包括控制及信息处理模块,调频控制模块,光学输出模块,光学接收模块,动态光电显微镜(校准对象)。用于解决现有动态光电显微镜的瞄准触发动态校准问题,具有较好的适应性和同步测量瞄准测量的评价能力,可以在稳定位置结构的条件下,完成动态光电显微镜瞄准触发信号的动态特性校准。
搜索关键词: 一种 动态 光电 显微镜 瞄准 信号 调制 校准 方法 装置
【主权项】:
1.一种动态光电显微镜瞄准信号光调制校准方法,其特征在于:具体步骤如下:步骤一、根据光电显微镜瞄准的工作特点,通过计算获取后续光电触发信号的钟形波电信号,钟形波电信号根据校准任务能够对钟形波电信号的幅度、周期及中心宽度进行调控,以复现动态光电显微镜测量时由于测量速度和光照强度因素对测量结果的影响;步骤二、将步骤一的钟形波电信号驱动放大后加载于发光电子器件之上,产生可用于动态光电显微镜瞄准信号校准用的信号光;步骤三、步骤二输出的信号光分为相同的两路,一路信号光经转换变成电信号并传输给上位机;另一路信号光传输给动态光电显微镜,动态光电显微镜输出电信号传输给上位机;步骤四、上位机对将步骤三传输的两路电信号进行对比,即实现校准,得到校准结果。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所,未经中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201711306080.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top