[发明专利]一种物体尺寸测量方法及装置在审
| 申请号： | 201711248378.3 | 申请日： | 2017-12-01 |
| 公开（公告）号： | CN108036724A | 公开（公告）日： | 2018-05-15 |
| 发明（设计）人： | 胡狄;胡攀攀;徐威 | 申请（专利权）人： | 武汉万集信息技术有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/02 | 分类号： | G01B11/02;G01C15/00 |
| 代理公司： | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人： | 王莹;李相雨 |
| 地址： | 430070 湖北省武汉*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明提供一种物体尺寸测量方法及装置。所述方法包括：获取待测量物体的顶部图像，所述顶部图像中包含有光斑信息以及所述待测量物体的顶部轮廓信息，在所述顶部图像中确定所述光斑的像素尺寸信息、所述待测量物体的顶部宽度对应的像素尺寸信息和/或所述待测量物体的顶部长度对应的像素尺寸信息；根据所述光斑的实际尺寸信息，在所述顶部图像中所述光斑的像素尺寸信息以及所述待测量物体的顶部对应的像素尺寸信息，确定所述待测量物体的宽度信息和/或长度信息。本发明提供的物体尺寸测量方法及装置，使用方便，能快速测量物体尺寸。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 物体 尺寸 测量方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种物体尺寸测量方法，其特征在于，包括：获取待测量物体的顶部图像，所述顶部图像中包含有光斑信息以及所述待测量物体的顶部轮廓信息，其中，所述光斑是通过单点激光测距装置向所述待测量物体顶部发射激光在所述待测量物体顶部形成的光斑；在所述顶部图像中确定所述光斑的像素尺寸信息、所述待测量物体的顶部宽度对应的像素尺寸信息和/或所述待测量物体的顶部长度对应的像素尺寸信息；根据所述光斑的实际尺寸信息，在所述顶部图像中所述光斑的像素尺寸信息以及所述待测量物体的顶部宽度对应的像素尺寸信息，确定所述待测量物体的宽度信息；和/或，根据所述光斑的实际尺寸信息，在所述顶部图像中所述光斑的像素尺寸信息以及所述待测量物体的顶部长度对应的像素尺寸信息，确定所述待测量物体的长度信息。
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