[发明专利]一种基于并行探测的超分辨荧光寿命成像方法和装置有效
| 申请号： | 201711241950.3 | 申请日： | 2017-11-30 |
| 公开（公告）号： | CN108120702B | 公开（公告）日： | 2020-08-11 |
| 发明（设计）人： | 匡翠方;刘少聪;陈友华;刘旭;李海峰;张克奇;毛磊 | 申请（专利权）人： | 浙江大学 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64;G01N21/01 |
| 代理公司： | 北京睿智保诚专利代理事务所(普通合伙) 11732 | 代理人： | 周新楣 |
| 地址： | 310013 浙江*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开一种基于并行探测的超分辨荧光寿命成像装置，包括光源，光源发出的激发光由显微物镜聚焦到样品上并收集样品发出的信号光，其中，接收信号光的探测系统包括：光纤束，内的多根光纤束同时接收到所述的信号光；探测器阵列，具有分别连接每根光纤的多个探测器，得到对应的光强信号；时间相关单光子计数器阵列，具有分别连接每个探测器并与光源脉冲同步的时间相关单光子计数器，用于计算荧光寿命并实现超分辨荧光寿命成像。本发明还公开一种基于并行探测的超分辨荧光寿命成像方法。本发明利用并行APD和并行TCSPC，不仅实现了成像分辨率的提升，还显著提高了寿命成像速度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 并行 探测 分辨 荧光 寿命 成像 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种基于并行探测的超分辨荧光寿命成像装置，包括光源，光源发出的激发光由显微物镜聚焦到样品上并收集样品发出的信号光，其特征在于，接收信号光的探测系统包括：光纤束，内含多根光纤束同时接收到所述的信号光；探测器阵列，具有分别连接每根光纤的多个探测器，得到对应的光强信号；时间相关单光子计数器阵列，具有分别连接每个探测器并与光源脉冲同步的时间相关单光子计数器，用于计算荧光寿命并实现超分辨荧光寿命成像。
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