[发明专利]环形光源钻石测量仪及钻石测量方法在审
申请号: | 201711230615.3 | 申请日: | 2017-11-29 |
公开(公告)号: | CN107807130A | 公开(公告)日: | 2018-03-16 |
发明(设计)人: | 周宗文;吴倩倩;袁心强 | 申请(专利权)人: | 周大生珠宝股份有限公司 |
主分类号: | G01N21/87 | 分类号: | G01N21/87;G01N21/47;G01N21/01 |
代理公司: | 深圳市精英专利事务所44242 | 代理人: | 任哲夫 |
地址: | 518000 广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明涉及宝石检测领域,提供一种环形光源钻石测量仪及钻石测量方法。一种环形光源钻石测量仪,包括处理器、光源组件、图像采集装置及用于放置样品的样品台,所述光源组件提供照射在位于样品台上样品的入射光线,所述图像采集装置用于采集样品反射所述入射光线所形成的图像;所述处理器用于接收由图像采集装置采集到的图像并利用该图像处理分析得到样品的光学参数;所述光源组件为环形光源;所述环形光源钻石测量仪还包括用于驱动样品台进行转动的驱动机构。该环形光源钻石测量仪能直接测定样品的光学参数,可以有效地、客观地评价钻石的光学效果。一种钻石测量方法,利用上述的环形光源钻石测量仪对样品进行光学参数的测量。 | ||
搜索关键词: | 环形 光源 钻石 测量仪 测量方法 | ||
【主权项】:
一种环形光源钻石测量仪,包括处理器、光源组件、图像采集装置及用于放置样品的样品台,所述光源组件提供照射在位于样品台上样品的入射光线,所述图像采集装置用于采集样品反射所述入射光线所形成的图像;所述图像采集装置与所述处理器相连,所述处理器用于接收由图像采集装置采集到的图像并利用该图像处理分析得到样品的光学参数;其特征在于:所述光源组件为环形光源;所述样品台的中心、光源组件的中心及图像采集装置的中心位于同一中轴线上;所述环形光源钻石测量仪还包括用于驱动样品台进行转动的驱动机构。
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