[发明专利]一种数字集成电路测试系统在审
| 申请号： | 201711223490.1 | 申请日： | 2017-11-29 |
| 公开（公告）号： | CN109839585A | 公开（公告）日： | 2019-06-04 |
| 发明（设计）人： | 不公告发明人 | 申请（专利权）人： | 泰瑞科微电子（淮安）有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/317 | 分类号： | G01R31/317 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 211700 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种数字集成电路测试系统，本发明系统硬件可提供最多32管脚的数字集成电路测试,测试向量深度可达2M,最快实现10M的测试频率,并可根据所测芯片的类型选择相应的测试项目。测试系统软件分为三大模块:下层ARM程序模块、USB驱动模块、上位机软件模块。其中下层ARM程序采用ADS1.2开发工具进行开发,实现各个测试板的驱动程序和ARM内核主程序;USB驱动模块借助VC6.0工具设计完成,USB总线的接口驱动程序,实现ARM与上位机的通信;上位机模块使用C#语言在VS2008下开发完成,是用户的操作模块,供用户设置测试工程数据,而整个工程的所有数据信息通过SQL Server2000保存。 | ||
| 搜索关键词： | 数字集成电路测试 程序模块 测试系统软件 接口驱动程序 上位机模块 上位机软件 操作模块 测试工程 测试频率 测试项目 测试向量 工具设计 开发工具 驱动程序 数据信息 用户设置 测试板 上位机 主程序 管脚 下层 芯片 开发 保存 通信 语言 | ||
【主权项】：
1.一种数字集成电路测试系统，本发明系统硬件可提供最多32管脚的数字集成电路测试,测试向量深度可达2M,最快实现10M的测试频率,并可根据所测芯片的类型选择相应的测试项目，测试系统软件分为三大模块:下层ARM程序模块、USB驱动模块、上位机软件模块，其中下层ARM程序采用ADS1.2开发工具进行开发,实现各个测试板的驱动程序和ARM内核主程序;USB驱动模块借助VC6.0工具设计完成,USB总线的接口驱动程序,实现ARM与上位机的通信;上位机模块使用C#语言在VS2008下开发完成,是用户的操作模块,供用户设置测试工程数据,而整个工程的所有数据信息通过SQL Server2000保存。
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