[发明专利]一种基于弥散斑锐度的点缺陷面积检测方法有效
| 申请号： | 201711207524.8 | 申请日： | 2017-11-27 |
| 公开（公告）号： | CN108008554B | 公开（公告）日： | 2020-09-11 |
| 发明（设计）人： | 袁捷宇;张胜森;郑增强;邓标华 | 申请（专利权）人： | 武汉精测电子集团股份有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13;G01B11/28 |
| 代理公司： | 武汉东喻专利代理事务所(普通合伙) 42224 | 代理人： | 方可 |
| 地址： | 430070 湖北省武汉*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明属于液晶面板的自动化缺陷检测技术领域，公开了一种基于弥散斑锐度的点缺陷面积检测方法，通过点缺陷所导致的弥散斑的锐度与镜头工作距离偏移量的关系、点缺陷的面积与镜头工作距离偏移量的关系来间接获取点缺陷的面积与弥散斑锐度之间的映射关系；进一步通过点缺陷的面积与弥散斑锐度之间的映射关系、基于弥散斑锐度检测值来获取精确的点缺陷面积，消除了弥散斑带来的干扰，克服了LCD检测过程中镜头失焦引起的弥散斑对点缺陷面积检测精度的影响，降低了对LCD检测的工业相机镜头成像质量的要求，并对实际检测的工业环境的影响具有抗干扰性，可提高LCD检测中点缺陷识别的准确度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 弥散 斑锐度 点缺陷 面积 检测 方法 | ||
【主权项】：
1.一种基于弥散斑锐度的点缺陷面积检测方法，其特征在于，通过点缺陷导致的弥散斑锐度与镜头工作距离偏移量的关系、点缺陷面积与镜头工作距离偏移量的关系来间接获取点缺陷的面积与弥散斑锐度之间的映射关系；进一步通过点缺陷的面积与弥散斑锐度之间的映射关系、基于点缺陷对应的弥散斑锐度检测值来获取点缺陷面积检测值。
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